... Времяпролетная методика . Пространственный анализ . Диффузионный профиль . ... Группа специального рентгеноструктурного анализа . ... Группа электронно-ионной микроскопии и электронно-зондового анализа . ...
... вторичных ионов позволяет получить информацию об элементном, молекулярном или изотопном составе поверхности, распределении изотопов/элементов по поверхности, снимать диффузионные профили и т.д. Анализ проводится с использованием масс-спектрометра TOF-SIMS ...
... 38 . Послойный элементный анализ многослойных стуктур Mo / Si методом оже-электронной спектроскопии . ... 43 . Мессбауэровская оптика синхротронного излучения на изотопной границе . В. А. Беляков, С. В. Семенов . 48 . ...
... Учет наложения линий и аппроксимация фонового излучения в рентгено-флуоресцентном и микрозондовом энергодисперсионном анализах ... Особенности исследования изотопного состава образцов с высоким поверхностным сопротивлением во вторично-ионной масс ...