... и их свойства: вторичная электронная эмиссия, генерация рентгеновскогоизлучения, тепловое воздействие на объект, термо- и ... Детекторы рентгеновскогоизлучения в электронной микроскопии. ...
... 3. Для возбуждения линии Fe 2p использовалось рентгеновскоеизлучение Al K?. ... спектр фотоэлектронов, возбуждаемых рентгеновскимизлучением Al K?, демонстрирует ... Рассчитайте отношение выходов рентгеновского К-излучения и КLL оже-электронов. 10. ...
... В курсе лекций рассматриваются методы анализа состава и структуры поверхности твердотельных структур, основанные на регистрации вторичных частиц, индуцированных облучением пучками ускоренных ионов, электронов и рентгеновскимизлучением. ...
... и приборов современной электроники от мощных источников излучения до технологии и диагностики элементов современной микро- и ... растровые электронные микроскопы . оже- и КР-спектрометры . рентгеновские микроанализаторы . ...
... Дифракция в кристаллах и обратная решетка. Природа излучений, используемых для структурного анализа. Закон Брэгга. ... Дифракция электронов и рентгеновских лучей на тонких пленках. ...