... Дифракционные методы исследования структуры вещества, основаны на изучении углового распределения интенсивности рассеяния исследуемым веществом излучения - рентгеновского (в т. ч. синхротронного), потока электронов или нейтронов и мессбауэровского g-излучения. ... Соответствующий атомный фактор f р при q = 0 численно равен числу электронов Z в атоме, если f р выражен в т. наз. электронных единицах, т. е. в относит. единицах амплитуды рассеяния рентгеновского излучения одним своб. электроном. ...