Спектроскопия рентгеновского поглощения (XAFS), включающая в себя изучение как дальней (EXAFS), так и околокраевой структуры (XANES) в спектрах поглощения, является мощным методом структурных исследований. ... A.I. Lebedev, I.A. Sluchinskaya, V.N. Demin and I.H. Munro. ... А.И. Лебедев, И.А. Случинская, В.Н. Демин, И. Манро. ... А.И. Лебедев, А.В. Мичурин, И.А. Случинская, В.Н. Демин, И. Манро. ... Новый метод определения параметров потенциальной ямы нецентральных атомов с помощью EXAFS-спектроскопии. ...