|
T. V. Amotchkina, V. Janicki, J. Sancho-Parramon, A. V. Tikhonravov, M. K. Trubetskov, and H. Zorc. General approach to reliable characterization of thin metal films // Appl. Opt. 2011. Vol. 50. N 10. pp. 1453-1464
предложили универсальный метод, позволяющий надежно определять оптические константы как функции длины волны и толщины пленки. Данный метод апробирован на тонких пленках серебра, заключенных между слоями оксида кремния. Данные константы необходимы для дизайна многослойных покрытий, содержащих тонкие металлические слои.
Ключевые слова:
Optical materials, Multilayers, Surface plasmons, Metallic, opaque, and absorbing coatings, Multilayer design.
|