Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.spm.genebee.msu.ru/members/lulevich/Valentin5_2R.html
Дата изменения: Fri Apr 2 16:17:11 2004 Дата индексирования: Mon Oct 1 23:26:36 2012 Кодировка: Windows-1251 |
Волынский А.Л.,1 Люлевич В.В.2, Яминский И.В.1,2
1 Химический факультет МГУ им. Ломоносова
2 Физический факультет МГУ им. Ломоносова.
Ранее было сообщено о возникновении регулярного поверхностного микрорельефа при растяжении полимеров, имеющих жесткое покрытие [1]. Наблюдаемая картина была интерпретирована как явление потери устойчивости жесткого покрытия при деформировании полимера-подложки [2]. На рис.1 представлено АСМ изображение микрорельефа на пленке ПЭТФ, образовавшегося в результате равномерной плоскостной усадки (сжатия) полимерного материала из-за его нагрева. Таким образом использование нагревателя в комплексе с атомно-силовым микроскопом позволит изучить динамику этого явления и выяснить механизмы нанодеформаций полимера. Потребность получить пространственное разрешение менее 0,1нм в плоскости образца и сотых долей нанометра по нормали накладывает определенный предел на температурный дрейф прибора.
Для этих целей нами была
разработана схема миниатюрного нагревателя с автоматической стабилизацией
температуры. Нагревательный элемент и датчик температуры помещены в тонкостенный
цилиндрический кожух диаметром 10мм и высотой 3мм, который и устанавливается
непосредственно в микроскоп. Для фиксации нагревателя в микроскопеслужит
прикрепленная к кожуху железная шайба, которая притягивается магнитом пьезосканера.
Использование помехозащищенной схемы контроля температуры разрешило разнести
блок стабилизации и непосредственно нагревательный элемент на расстояние
порядка нескольких метров. Выделяемая нагревателем мощность около 1 Ватта
вполне достаточна для нагрева образца до температуры 800С
(при комнатной температуре окружающей среды). Точность стабилизации температуры,
ограниченная конвекционными потоками воздуха, составила 0,050С.
С помощью атомно-силового
микроскопа "Nanoscope-III" (Digital Instruments,
США) был оценен температурный дрейф
нагревателя, обусловленный температурным расширением как самого нагревателя,
так и деталей микроскопа. Для этого золотая фольга закреплялась на нагревателе
и помещалась в микроскоп, начиналось сканирование, и в определенный момент
производился нагрев. На рисунках 2 и 3 представлены типичные изображения
поверхности золота, полученные таким методом (момент включения нагрева
на 50С обозначен чертой
, направление сканирования - стрелкой).Измеренный температурный дрейф из-за
нагрева составил не более 40нм/0C
в плоскости образца (рис.3), а по нормали к образцу оказался порядка 100нм/0C(рис.2).
Выполнена серия экспериментов, в которой показано, что достижение более
малого температурного расширения нагревателя, например с помощью инваровых
сплавов, не имеет смысла, так как оно определяется в основном обьектом
исследования, а коэффициенты линейного расширения полимерных материалов
как правило велики.
Л и т е р а т у р а