Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод изучения поверхности твердых тел

Литература

1. Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Weibel E. 7 i 7 Reconstruction on Si(111) Resolved in Real Space // Phys. Rev. Lett. 1983. Vol. 50, N 2. P. 120-123. Этой знаменитой публикацией открылась эпоха СТМ.
   Binnig G., Rohrer H. Scanning Tunneling Microscopy - From Birth to Adolescence // Rev. Mod. Phys. 1987. Vol. 59. P. 615-625 [есть перевод этой Нобелевской речи Г. Биннига и Г. Рорера "Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения до юности" в кн.: Атомы "глазами" электронов: (Актуальные проблемы физики). М.: Знание, 1988. (Новое в жизни, науке, технике. Физика; N 3)].
2. Маслова Н.С., Панов В.И. Сканирующая туннельная микроскопия атомной структуры, электронных свойств и поверхностных реакций // Успехи физ. наук. 1989. Т. 157, N 1. С. 185-195.
3. Трубецков Д.И. Вакуумная микроэлектроника // Соросовский Образовательный Журнал. 1997. N 4. С. 58-64.
4. Келдыш Л.В. Таммовские состояния и физика поверхности твердого тела // Природа. 1985. N 9. С. 17-33.
5. Бахтизин Р.З., Сакурай Т., Хашицуме Т., Щуе К.-К. Атомные структуры на поверхности GaAs(001), выращенной методами молекулярно-лучевой эпитаксии // Успехи физ. наук. 1997. Т. 167, N 11. С. 1227-1241.