Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.elch.chem.msu.ru/mole/lecture/qchuvilin.pdf Дата изменения: Tue Aug 28 21:42:53 2012 Дата индексирования: Mon Oct 1 23:26:53 2012 Кодировка:

Q: Topology: how we can get 3D image of the sample using TEM? A: Q: What can be the reason of noise in electron microscopy, besides the sample damage? A: