Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.chem.msu.ru/rus/vmgu/986/abs008.html
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Fri Feb 28 02:37:08 2014
Кодировка: Windows-1251
Вестник Московского Университета. Химия 1998, том 39, Номер 6
ChemNet
 
Вестник Московского Университета, серия "Химия"
Предыдущая статья Следующая статья Содержание  

Н.В. Алов, К.В. Осколок

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННЫЙ АНАЛИЗ ХИМИЧЕСКИ МОДИФИЦИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТВЕРДЫХ ТЕЛ

Реферат

Рассмотрены проблемы и перспективы количественного рентгеноэлектронного анализа химически модифицированных поверхностей твердых тел. Предложены методики быстрой экспериментальной оценки аппаратной функции электронного спектрометра и зависимости средней длины свободного пробега фотоэлектронов от их кинетической энергии для произвольного материала. Вычислена аппаратная функция электронного спектрометра Leybold LHS-10 (Германия). Показана принципиальная возможность использования электронных спектров, измеренных в режиме постоянного фактора торможения энергоанализатора, для количественного анализа поверхности.

  Полный текстs статьи в формате PDF  
Вестник Московского Университета.
Химия 1998, том 39, Номер 6, стр. 394
   
Как прочитать PDF файл

Copyright (C) Химический факультет МГУ, 1998



Сервер создается при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Не разрешается  копирование материалов и размещение на других Web-сайтах
Вебдизайн: Copyright (C) И. Миняйлова и В. Миняйлов
Copyright (C) Химический факультет МГУ
Написать письмо редактору