Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.test.physchem.msu.ru/doc/aronin_msu.doc Дата изменения: Mon Aug 23 16:39:14 2010 Дата индексирования: Sun Apr 10 22:51:30 2016 Кодировка: koi8-r

Структура и свойства неравновесных конденсированных систем

Фаза. Стабильное состояние. Метастабильное состояние. Потеря устойчивости.
Типы неравновесных состояний. Фазовые переходы. Диаграммы фазового
равновесия. Связь структурных характеристик с диаграммами фазового
равновесия. Изменение диаграмм фазового равновесия при отклонении от
равновесия. Диффузионные фазовые переходы. Бездиффузионные фазовые
переходы. Формирование структуры сильно неравновесных систем (аморфных,
квазикристаллических и нанокристаллических). Переход из жидкого в твердое
состояние. Формирование неравновесных твердых растворов. Структура
аморфных, квазикристаллических и нанокристаллических материалов. Способы
описания структуры аморфных и квазикристаллических материалов. Релаксация
структуры. Эволюция структуры аморфных, квазикристаллических и
нанокристаллических материалов при различных внешних воздействиях
(температура, механические напряжения, магнитные поля). Способы получения
металлических наноматериалов. Стабильность наноструктуры. Коалесценция по
Оствальду. Методы исследования структуры сильно неравновесных систем
(дифракционные, калориметрические и др.).
Физические свойства металлических материалов в аморфном,
квазикристаллическом и нанокристаллическом состояниях (злектрические,
магнитные, механические). Электропроводность твердых растворов и
неупорядоченных систем. Дифракционная модель Займана. Магнитные свойства
аморфных и нанокристаллических сплавов. Температура Кюри, индукция
насыщения, зависимость от состава и обработки. Магнито-упругие эффекты.
Инварные свойства.




Методы изуЧения реальной структуры
и состава материалов


1.Дифракционные методы исследования реальной структуры материалов. Основные
положения кинематического приближения теории рассеяния. Интерференционная
функция Лауэ. Обратная решетка. Геометрическая интерпретация условий
дифракции. Структурная амплитуда. Рассеяние в неупорядоченных системах.
Атомный фактор рассеяния. Влияние температуры. Уравнение Дебая. Радиальная
функция межатомных расстояний. Основные положения динамического приближения
теории рассеяния. Важнейшие следствия динамической теории рассеяния.
Волновое поле в кристалле с искажениями. Анализ дефектов и дисперсности.
Анализ твердых растворов и структурных изменений при обработке. Анализ
фазового состава.
2.Рентгеновская дифракционная микроскопия. Методы рентгеновской топографии.
Классификация типов контраста. Примеры применения топографических методов.
Рентгеновский дифракционный контраст дефектов. Роль амплитудных эффектов в
образовании дифракционного изображения дислокаций. Природа теневого
изображения дислокаций в условиях аномального прохождения рентгеновских
лучей.
3. Просвечивающая электронная микроскопия. Общие представления по методикам
приготовления образцов. Контраст на изображении тонкой фольги. Анализ
дефектов упаковки, дислокаций и границ зерен. Методы электронной дифракции.
Информация, содержащаяся в электронограммах. Применение методов
электронографии для исследования реальной структуры материалов. Примеры
решения задач физического материаловедения.
4. Электронная микроскопия высокого разрешения. Типы контраста (амплитудный
и фазовый контраст). Передаточная функция оптической системы. Примеры
использования методов электронной микроскопии высокого разрешения.
5.Основы растровой электронной микроскопии (РЭМ). Устройство и принцип
работы РЭМ. Взаимодействие электронного пучка с веществом. Основные
механизмы потерь энергии электронов в веществе. Детекторы сигналов в РЭМ.
Основные источники сигналов, используемых для формирования изображения в
РЭМ (отраженные электроны; вторичные электроны; рентгеновское излучение;
Оже-электроны; катодолюминесценция; наведенный ток). Формирование контраста
в РЭМ.
6.Рентгеновский микроанализ. Методы регистрации рентгеновского спектра.
Примеры использования методов РЭМ.
7. Зондовая электронная микроскопия.


Примечание: В лекциях обязательно должны быть примеры применения каждого из
методов к реальным материалам и структурам