Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://top.sinp.msu.ru/lev/phd/node22.html
Дата изменения: Fri Aug 3 16:55:48 2001
Дата индексирования: Sat Feb 2 21:40:46 2013
Кодировка: koi8-r

Систематические ошибки

Следующий шаг анализа - учет систематических ошибок, возникающих на каждом этапе измерений. В таблице 3.6 приведены учитываемые ошибки и измерения, на которые они влияют. К основным классам систематических ошибок можно отнести следующие вклады.

• Ошибки нормализации созданных МК событий: теоретическое сечение, интегральная светимость, экспериментальное сечение рождения $t\bar t$.

• Ошибки МК моделирования, такие как моделирование адронизации адронов, моделирование мюонов от $b$, моделирование триггеров и коррекции восстановленной энергии струй.

• Некоторые специальные ошибки, связанные с косвенно накладываемыми обрезаниями. К ним относятся ошибки в эффективности идентификации электрона, изолированного и тагированного мюонов. В связи с тем, что моделирование отклика детектора и программы реконструкции для МК событий не точно моделируют такие эффективности, их необходимо измерять отдельно, на хорошо изученных событиях и применять, как дополнительный фактор. В этот же класс относится ошибка метода удаления плохо измеренных событий и вклада космических лучей.

• Последний класс систематических ошибок отражает погрешности методов измерения $Wjj$ и QCD фона, которые получаются на основе экспериментальных данных. Основные вклады: ошибка коррекции QCD фона в электронном канале на различие в эффективности триггеров отбора многоструйных КХД событий (JET_3_MON) и триггера отбора анализируемых данных (ELE_JET_HIGH); погрешность отношения эффективностей триггеров на тагированные и нетагированные события, ошибка влияет на $Wjj$ фон, который вычисляется нормировкой образца нетагированных данных на функции вероятности тагирования, для которых ошибки фитирования также относятся к этому классу систематики; систематические ошибки определения вероятности струи идентифицироваться как электрон и вероятности неизолированного мюона идентифицироваться изолированным; ошибка метода вычитания $t\bar{t}$ и QCD при вычислении $Wjj$ фона для предотвращения их двойного учета.

Table 3.6: Значения различных вкладов в систематическую ошибку и их влияние на различные процессы.

Систематические ошибки
		акцептанс	вклад в фон
Источник	значение	сигнала	МК	$Wjj$	QCD
Нормализация МК событий
интеграл. светимость	$4.41\%$	--	$\surd$	--	--
теор. сечение	$2.2\%$ - $32\%$	--	$\surd$ ($W$+jets)	--	--
эксперим. сечение	$29\%$	--	$\surd$ ($t\bar{t}$)	--	--
МК моделирование
триггеры	$0.2\%$ - $70\%$	$\surd$	$\surd$	--	--
мюоны от распада $b$	$4.6\%$	$\surd$ (tag)	$\surd$ (tag)	--	--
адронизация струй	$5\%$ - $7\%$	$\surd$	$\surd$	--	--
корр. энергии струй	$0.9\%$ - $100\%$	$\surd$	$\surd$	--	--
Косвенные обрезания
ID электрона	$4.9\%$ - $7.4\%$	$\surd (e)$	$\surd (e)$	--	--
ID изол. $\mu$	$1.2\%$ - $10\%$	$\surd (\mu)$	$\surd (\mu)$	--	--
ID таг. $\mu$	$1.2\%$ - $5.3\%$	$\surd$ (tag)	$\surd$ (tag)	--	--
события "Bad jets"	$0.1\%$	$\surd$	$\surd$	--	--
космические лучи	$5.0\%$	--	--	$\surd (\mu)$	--
Метод измерения фона
триггеры J3M/EJH	$0.7\%$ - $3.7\%$	--	--	--	$\surd (e)$
триггеры Tag/notag	$2.9\%$ - $3.6\%$	--	--	$\surd$	--
mis-ID электрона	$7.7\%$ - $9.9\%$	--	--	--	$\surd (e)$
mis-ID изол. $\mu$	$18\%$	--	--	--	$\surd (\mu)$
Tag rate funcs. shape	$\sim$10.6$\%$	--	--	$\surd$	--
Tag rate funcs. scale	$1.7\%$	--	--	$\surd$	--
вычитание для $Wjj$	$1.1\%$ - $4.1\%$	--	--	$\surd$	--