Главная страница « Научно-исследовательский семинар «

В докладе рассматривается задача автоматического построения тестовых программ для тестирования модулей управления памяти моделей микропроцессоров. Системное тестирование микропроцессоров (core-level testing) состоит в проверке работы микропроцессора на заранее подготовленных или сгенерированных тестовых программах. Системные тесты проверяют микропроцессор в целом, поэтому размер набора таких тестов может оказаться чрезвычайно большим. Важной задачей является генерация тестов, направленных на проверку отдельных механизмов микропроцессора, особенно, если реализация таких механизмов является сложной и поэтому с большой вероятностью может содержать ошибки. Такая целенаправленная генерация позволяет одновременно сократить размеры тестового набора и повысить качество тестирования сложных механизмов. К числу таких сложных механизмов относится механизм управления памяти (memory management unit MMU), который отвечает за организацию виртуальной памяти и кэширование данных основной памяти.

В работе предложен метод построения тестовых программ на основе моделей: тестовые ситуации, на которые нацеливается тестовая программа, особенности функционирования самого микропроцессора, обусловленные функциями модуля управления памяти, формализуются в виде набора моделей и используются для автоматизации построения тестовых программ. Предлагаемый метод сводится к построению специальной системы уравнений на основе моделей и построению тестовых программ на основе решения этих систем уравнений.