1. Dapor M., Rau E.I., Sennov R.A. "Experimantal and computational study of the mean energy of electrons backscattered from surface films". J.Appl.Phys. 2007. V.102, p. 063705.
2. Аристов В.В., Гостев А.В., Рау Э.И., Сеннов Р.А. 'О пространственном разрешении и контрасте изображений в катодолюминесцентной микротомографии при использовании эллипсоидального конфокального коллектора оптического излучения'. Известия РАН. Серия физич., т.68, ? 9, с. 1312-1320 (2004).
3. Рау Э.И., Сеннов Р.А. 'Определение средней энергии электронов, отраженных от однородных, от слоистых и от диэлектрических мишеней'. Известия РАН. Серия физич., т.68, ? 9, с. 1342-1347 (2004).
4. Wong W.K., Rau E.I., Thong J.T. 'Electron-acoustic and surface electron beam induced voltage signal formation in scaning electron microscopy analysis of semiconductors samples'. Ultramicroscopy. V.101, p. 183-195 (2004).
5. Jbara O., Fakhfakh S., Belhaj M., Cazaux J., Rau E.I., Filippov M.N., Andrianov M.V. 'A new experimental approach for characterizing the internal trapped charge and electric field build up in ground-coated insulators during their e-irradiation'. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 2002, B 194, p. 302-310.
6. Belhaj M., Jbara O., Ziane D., Rau E.I., Andrianov M.V., Filippov M.N. 'Study of charging dynamics in electron irradiated Al2O3 by means of the displacement current'. Surface Science (2001).
7. Rau E.I., Khursheed A., Gostev A.V., Osterberg M. 'Improvements to the design of an electrostatic toroidal backscattered electron spectrometer for the scanning electron microscope'. Rev. Sci. Instr. 2002, v. 73, ? 1, p. 227-229.
8. Rau E.I., Hoffmeister H., Sennov R., Kohl H. 'Comparison of experimental and Monte-Carlo simulated BSE spectra of multilayered structures and 'in-depth' measurements in a SEM . J. Physics D: Appl. Phys. 2002, v.35, p. 1433-1437.