24.05.2006
Темы докладов:
1. Презентация фирмы JEOL.
2. Новейшие модели растровых электронных микроскопов JEOL с полевой эмиссией и с вольфрамовым катодом.
3. Последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии: 200кВ приборы. Применение данных приборов для решения прикладных задач.
4. Новейший электронно-зондовый микроанализатор JXA-8500F с полевой эмиссией, уникальные возможности, примеры использования.
Время и место проведения: Адрес ф-та: Москва, Ленинские горы, Главный корпус, геологический факультет. Проезд: ст. м. 'Университет', авт. ?? 1, 113, 119, 661 до остановки 'Дом культуры МГУ'.
Научно-практический семинар, организуемый японской компанией 'Токио Боэки Лтд.',
Тема семинара: 'Современные методы исследования вещества. Новейшие разработки JEOL'. В семинаре принимают участие Председатель Совета директоров фирмы JEOL Ltd. г-н Этоу и ведущие специалисты данной компании.Темы докладов:
1. Презентация фирмы JEOL.
2. Новейшие модели растровых электронных микроскопов JEOL с полевой эмиссией и с вольфрамовым катодом.
3. Последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии: 200кВ приборы. Применение данных приборов для решения прикладных задач.
4. Новейший электронно-зондовый микроанализатор JXA-8500F с полевой эмиссией, уникальные возможности, примеры использования.
Время и место проведения: Адрес ф-та: Москва, Ленинские горы, Главный корпус, геологический факультет. Проезд: ст. м. 'Университет', авт. ?? 1, 113, 119, 661 до остановки 'Дом культуры МГУ'.
Источник:
Иностранный отдел
