| Найдено документов: 859 (1 сайтов) ---- Время поиска: 0.03сек. |
Показаны документы, содержащие фрагменты текста из документа
http://www.issp.ac.ru/lsds/en/methods/sims.html.
http://www.issp.ac.ru/lsds/en/methods/sims.html.
1. Laboratory of materials for electrochemical technologies ISSP RAS
... Thermogravimetric and differential thermal analysis . ... TOF-SIMS analysis . Total conductivity, Seebeck coefficient and ion transference number measurements in controlled atmos . ... Processing of ceramic materials, electrode systems and electrochemical cells . ... SIMS analysis is based on exposure of the sample surface with primary ions possessing some definite energy, which is partially consumed by the sample and induces emission of sН-called secondary ions. ... Spatial resolution: 60 nm . ...
[
Сохраненная копия
]
Ссылки http://www.issp.ac.ru/lmet/en/methods/tof-sims -- 6.9 Кб -- 10.04.2016
Похожие документы
Похожие документы
Еще в разделе:
(Показать все результаты (>859) - www.issp.ac.ru/ )