Поиск по: -
Поискать по всем серверам
На этой странице приведены все страницы, которые ссылаются на http://www.spm.genebee.msu.ru/members/gallyamov/gal_yam/gal_yam5.html. Показаны документы 1 - 1 из 1.
1. СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ: ОСНОВНЫЕ ПРИНЦИПЫ, АНАЛИЗ ИСКАЖАЮЩИХ ЭФФЕКТОВ
. 1 Basic principles of scanning probe microscopy . 1.1 General operation modes of scanning probe microscope . 1.2 Scanning tunneling microscopy . 1.3 Atomic force microscopy . 1.3.1 Tip-sample force interaction . 1.3.2 Atomic force microscope operation . 2 Analysis of distortion effects in atomic force microscopy . 2.1 Tip-sample contact deformations . 2.1.1 Two bodies contact: Hertz problem . 2.1.2 Spherical probe and spherical sample contact . 2.1.3 Spherical probe and cylindrical sample contact . 2.1.4
[
Сохраненная копия
]
Ссылки http://www.spm.genebee.msu.ru/members/gallyamov/gal_yam/gal_yam1.html -- 219.1 Кб -- 21.11.2001
Похожие документы
Похожие документы