РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

АНАЛИТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП С БОЛЬШОЙ КАМЕРОЙ И УВЕЛИЧЕННЫМ МОТОРИЗОВАННЫМ СТОЛИКОМ

TESCAN VEGA



- Уникальная четырехлинзовая электронная оптика с использованием промежуточной линзы для оптимизации формы и размера пучка, запатентованная компанией Tescan,предназначена для получения изображений в различных режимах;
- Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают быстрое достижение рабочего вакуума;
- Широкий выбор детекторов и аксессуаров.

ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ МИКРОАНАЛИЗ
Рентгеноспектральный микроанализатор дисперсией по энергии системы INCA Energy фирмы OXFORD instruments с определением элементов от Ве до U.


ИССЛЕДОВАНИЯ РЕЛЬЕФА И СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ

СКАНИРУЮЩИЙ НАНОТВЕРДОМЕР

СУПЕР НАНОСКАН


 

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ:
- Нанофазные и композитные материалы;
- Ультрадисперсные твердые сплавы;
- Новые сверхтвердые материалы;
- Наноструктурированные материалы;
- Полупроводниковые технологии;
- Автомобильная промышленность;
- Инженерные приложения;
- Медицинские приложения;
- Алмазы и алмазные порошки;
- Устройства хранения информации;
- Оптические компоненты;
- Микро- и наноэлектромеханические системы (МЭМС и НЭМС);
- Тонкие пленки;
- Покрытия для снижения износа.

РЕЖИМЫ ИЗМЕРЕНИЙ

С ПОМОЩЬЮ "НаноСкан" ВОЗМОЖНО ПРОВЕДЕНИЕ СЛЕДУЮЩИХ ИССЛЕДОВАНИЙ:
- Получение изображения поверхности путем сканирования. Позволяет исследовать рельеф и структуру поверхности;
- Построение карт распределения механических свойств материалов на поверхности одновременно с получением изображения рельефа поверхности. Позволяет исследовать как структуру многофазных материалов, так и распределение механических неоднородостей по поверхности;
- Микро- и наноидентирование и склерометрия с последующим сканированием поверхности в области идентирования. Позволяет измерять твердость материалов на субмикронном масштабе и характер их разрушения;
- Количественное измерение модуля упругости со сверхвысоким пространственным методом силовой спектроскопии. Особенно успешно применяется для измерения свойств тонких пленок и сверхтвердых материалов.

Измерение твердости с помощью «НаноСкан» методом склерометрии заключается в нанесении царапин на поверхности материала с последующим сканированием изображения полученных отпечатков. Предварительно форма наконечника «НаноСкан» калибруется на эталонном материале путем нанесения серии царапин при различной нагрузке. Значение твердости материала рассчитывается относительно твердости эталона по соотношению нагрузок и ширин полученных царапин на исследуемом и эталонном материалах.


РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

ДИФРАТОМЕТР РЕНТГЕНОВСКИЙ ОБЩЕГО НАЗНАЧЕНИЯ

ДРОН-7



Рентгеновский дифрактометр применяется при решении аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения:
- Создание новых кристаллических материалов;
- Определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов;
- Разработка технологии получения материалов с заданными свойствами;
- Определение ориентировки монокристаллических заготовок;
- Исследование степени текстурированности и анализ дефектности тонких пленок;
- Анализ фазового состава сырья, продукции и промышленных отходов;
- Исследование фазовых превращений и химических реакций;
- Анализ термических деформаций и изменение структурных характеристик кристаллических материалов.

• Исследование рельефа и структуры поверхностей
• Растровая электронная микроскопия
• Рентгеноструктурный анализ