Ивлиев Николай Александрович
Публикации, проиндексированные в базах Scopus/WoS
1. V.A. Kolpakov, N.A. Ivliev Atomic-Molecular Model of Boundary Friction in Microtribocontacts between the Surfaces of Semiconducting and Dielectric Materials // Technical Physics. 2015. Vol. 60, No. 6. P. 922-927
2. Kolpakov V.A., Ivliev N.A. Measuring the surface purity of substrates by the tribometry method // Instruments and Experimental Techniques. 2014. Volume 57, Issue 5. P. 640-645
3. Kazanskiy N.L., Kapeev S.V., Kolpakov S.V. и др. Interaction of dielectric substrates in the course of tribometric assessment of the surface cleanliness // Optical Memory and Neural Networks (Information Optics). 2008. Volume 17, Issue 1. P. pp 37-42
4. Казанский Н.Л., Колпаков В. А., Колпаков А.И. и др. PARAMETER OPTIMIZATION OF A TRIBOMETRIC DEVICE FOR RAPID ASSESSMENT OF SUBSTRATE SURFACE CLEANLINESS // OPTICAL MEMORY & NEURAL NETWORKS (INFORMATION OPTICS) . 2008. Vol. 17, No. 2. С. pp. 37-42
Статьи в журналах, рекомендованных ВАК
1. Колпаков В. А., Ивлиев Н.А. Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов // Журнал технической физики. 2015. Том 85, выпуск 6. С. 137-142
2. Ивлиев Н.А., Колпаков В. А. ИЗМЕРЕНИЕ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК МЕТОДОМ ТРИБОМЕТРИИ // ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА. 2014. - ?5. С. 129-134
3. Колпаков В.А., Ивлиев Н.А., Колпаков А.И и др. Устройство контроля чистоты поверхности подложек методом трибометрии // Вестник СГАУ. 2013. - Т.39. - ?1.. С. 222-229
4. Колпаков В.А., Ивлиев Н.А., Кричевский Сергей Васильевич Анализ методов экспресс-контроля чистоты поверхности // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. - Самара: СГАУ, 2010. - ?4. 2010. ? 4 (24). С. 193-201
5. Казанский Н.Л., Колпаков В. А., Колпаков А.И. и др. Исследование особенностей трибометрического взаимодействия диэлектрических подложек при экспресс - контроле степени чистоты их поверхности // Компьютерная оптика. 2007. том 31, ? 1. С. 42-46
6. Казанский Н.Л., Колпаков В. А., Колпаков А.И. и др. Оптимизация параметров устройства трибометрического измерения чистоты поверхности подложек // Компьютерная оптика. 2005. ? 28. С. 76-79
Другие научные публикации
1. Ивлиев Н.А., Колпаков В.А. Устройство контроля атомно-молекулярных загрязнений на поверхности полупроводниковых и диэлектрических подложек // Всероссийская молодежная конференция по фундаментальным вопросам и инновационным аспектам современной физики, 10-15 ноября 2013 г. , Москва, , 2013 г., С. 107
2. Ивлиев Н.А. Прибор контроля концентрации органических загрязнений на поверхности полупроводниковых и диэлектрических пластин // Международная молодежная научная конференция 'XII Королевские чтения', 1-3 октября 2013 г., Самара, , 2013 г., С. 81
3. Kolpakov V.A., Kazanskiy N.L., Kolpakov A.I. и др. Device for Checking the Surface Finish of Substrates by Tribometry Method // Friction and Wear Research (FWR). - Science and Engineering Publishing Company, 2013. 2013. 1. P. 10-14
