Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/lsr/research.html
Дата изменения: Thu Nov 7 11:23:46 2013
Дата индексирования: Sat Apr 9 23:46:41 2016
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: релятивистское движение
Research LSR ISSP RAS
 
www.issp.ac.ru ENG
 
 

Нанокристаллические металлические материалы

Преобразователи ионизирующего излучения

Оксидные материалы с перовскитной структурой (Bi соединения, манганиты)

Аномальные структурные состояния, роль дефектов в структурных и фазовых превращениях

Монокристаллические ленты тугоплавких металлов

Структура реального кристалла

Научные исследования, проводимые в лаборатории можно условно подразделить на несколько групп:

1. исследования реальной структуры и фазовых превращений, установление корреляции структуры и свойств

 в аморфных и нанокристаллических материалах

(А.С.Аронин, Г.Е.Абросимова, Д.В.Матвеев, О.Г.Рыбченко, Н.Н. Орлова, Е.А.Першина)


 в сцинтилляторах

(С.З.Шмурак, А.П.Киселев)

2. исследования структуры и фазовых переходов при различных условиях
в металлах и сплавах,
(А.С.Аронин, Г.Е.Абросимова, И.М.Аристова, О.Г.Рыбченко, Д.В.Матвеев, Н.Н Орлова, Е.А.Першина)

  • в органических и неорганических материалах,
    (А.С.Аронин, Г..Е.Абросимова, И.М.Аристова, Д.В.Матвеев, И.М.Шмытько)
  • в оксидных системах
    (И.М.Шмытько, С.З. Шмурак, В.Д.Седых, А.П.Киселев,)

  • в апериодических системах (И.М.Шмытько, )

3. исследования реальной структуры кристаллов

 Изучение дифракционных механизмов образования изображения дефектов кристаллической решетки
(Э.В.Суворов, И.А.Смирнова)

 Исследование тонких приповерхностных эпитаксиальных слоев методами рентгеновской дифракционной оптики
(Э.В.Суворов, И.М.Шмытько, И.А.Смирнова)

 

 

 
 

Copyright ©2005-2007
LSR ISSP RAS