  |
 |
|
Методики лаборатории
- Thermogravimetric and differential thermal analysis
- Electrode polarization measurements
- Testing of model SOFCs and stacks
- TOF-SIMS analysis
- Total conductivity, Seebeck coefficient and ion transference number measurements in controlled atmos
- High-temperature dilatometry
- Processing of ceramic materials, electrode systems and electrochemical cells
- Synthesis of solid oxide materials for high-temperature electrochemical applications
- XPS
Синтез твердооксидных материалов для электрохимических технологий
- Твердофазный синтез
- Глицин-нитратный и цитратный методы синтеза
- Соосаждение и другие способы получения нанопорошков
- Синтез в контролируемых газовых атмосферах
- Обработка материалов в вакууме, восстановительных и окислительных условиях
- Анализ кинетики процессов
В Лаборатории имеется все необходимое оборудование для получения и исследования оксидных и металлокерамических материалов, в том числе:
- Отжиг в камерных и трубчатых печах для термической обработки образцов при 100 - 1750 њC в различных газах,
- Перемалывание порошков в шаровой мельнице,
- Классификация порошков по размеру частиц и рассев с использованием вибросит,
- Ультразвуковая обработка,
- Пропитка пористых материалов растворами и/или суспензиями,
- Изготовление плотной керамики,
- Анализ химических процессов, фазовых переходов и т.д.,
- Выдерживание и хранение материалов в заданных условиях в течение длительного периода
Исследование структуры и микроскопических параметров синтезированных материалов проводится совместно с Лабораторей Спектроскопии Дефектных Структур (ЛСДС), Сектором Элементного и Структурного Анализа (СЭСА), Лабораторией Структурных Исследований (ЛСИ) и Распределенным Центром Коллективного Пользования ИФТТ РАН. Основные методы включают в себя:
- Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ (РФА),
- Сканирущая электронная микроскопия,
- Просвещивающая электронная микроскопия высокого разрешения (HRTEM),
- Рентгеновская фотоэлектронная микроскопия (РФС),
- Спектроскопия комбинационного рассеивания,
- Атомно-силовая микроскопия (AFM),
- Ренгеновский флюоресцентный анализ,
- Дифференциальный термический и термогравиметрический анализ (DTA/TGA),
- Высокотемпературная микроскопия,
- Времяпролетная вторично-ионная масс-спектрометрия (TOF-SIMS).
... наверх
