Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/lmet/ru/methods/synthesis
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Sun Apr 10 04:21:38 2016
Кодировка: Windows-1251
Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п п р п п р п п р п п р п п р п
Лаборатория материалов для электрохимических технологий ИФТТ РАН
en ru

ЛМЭТ ИФТТ РАН
Высокотемпературная вставка

Методики лаборатории


Синтез твердооксидных материалов для электрохимических технологий

  • Твердофазный синтез
  • Глицин-нитратный и цитратный методы синтеза
  • Соосаждение и другие способы получения нанопорошков
  • Синтез в контролируемых газовых атмосферах
  • Обработка материалов в вакууме, восстановительных и окислительных условиях
  • Анализ кинетики процессов



В Лаборатории имеется все необходимое оборудование для получения и исследования оксидных и металлокерамических материалов, в том числе:

  • Отжиг в камерных и трубчатых печах для термической обработки образцов при 100 - 1750 њC в различных газах,
  • Перемалывание порошков в шаровой мельнице,
  • Классификация порошков по размеру частиц и рассев с использованием вибросит,
  • Ультразвуковая обработка,
  • Пропитка пористых материалов растворами и/или суспензиями,
  • Изготовление плотной керамики,
  • Анализ химических процессов, фазовых переходов и т.д.,
  • Выдерживание и хранение материалов в заданных условиях в течение длительного периода





Исследование структуры и микроскопических параметров синтезированных материалов проводится совместно с Лабораторей Спектроскопии Дефектных Структур (ЛСДС), Сектором Элементного и Структурного Анализа (СЭСА), Лабораторией Структурных Исследований (ЛСИ) и Распределенным Центром Коллективного Пользования ИФТТ РАН. Основные методы включают в себя:

  • Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ (РФА),
  • Сканирущая электронная микроскопия,
  • Просвещивающая электронная микроскопия высокого разрешения (HRTEM),
  • Рентгеновская фотоэлектронная микроскопия (РФС),
  • Спектроскопия комбинационного рассеивания,
  • Атомно-силовая микроскопия (AFM),
  • Ренгеновский флюоресцентный анализ,
  • Дифференциальный термический и термогравиметрический анализ (DTA/TGA),
  • Высокотемпературная микроскопия,
  • Времяпролетная вторично-ионная масс-спектрометрия (TOF-SIMS).

... наверх