Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа :
http://www.issp.ac.ru/lmet/ru/methods/processing
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Sun Apr 10 04:32:46 2016
Кодировка: Windows-1251
Поисковые слова:
eit
Оптический микроскоп
Публикации
Сотрудники
Исследования
Методики
Методики лаборатории
Thermogravimetric and differential thermal analysis
Electrode polarization measurements
Testing of model SOFCs and stacks
TOF-SIMS analysis
Total conductivity, Seebeck coefficient and ion transference number measurements in controlled atmos
High-temperature dilatometry
Processing of ceramic materials, electrode systems and electrochemical cells
Synthesis of solid oxide materials for high-temperature electrochemical applications
XPS
Изготовление и исследование керамических материалов, электродных систем и электрохимических ячеек
Спекание плотной керамики и электродных слоев
Анализ усадки материалов в процессе спекания
Высокотемпературная микроскопия
Нанесение многослойных электродов методом трафаретной печати
Оптимизация условий технологических процессов
Изготовление из керамических материалов образцов заданной формы и размеров с использованием прецизионного отрезного и полировального станка
Ультразвуковая очистка
Пропитка пористых электродных слоев растворами каталитически-активных компонентов
...
наверх