Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2003/03-2003.htm
Дата изменения: Tue Mar 2 11:13:21 2004 Дата индексирования: Tue Oct 2 12:03:14 2012 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: п п п п п п п п п п п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п р п п р п п р п п р п п р п п п р п р п п р п р п п р п р п п р п р п п р п р п п р п |
СОДЕРЖАНИЕ
Номер 3, 2003
Томашполъский Ю.Я. Поверхностный барьер в моделях вторично-электронной эмиссии |
6-10 |
|
|
Заварин Е.Е., Зайцев С.И., Сироткин В.В.,
Усиков А.С., Шмидт Н.М., Якимов Е.Б. Исследование эпитаксиальных слоев я-GaN в режиме наведенного тока
с субмикронным пространственным разрешением |
11-14 |
|
|
Якимов Е.Б. Измерение параметров дислокации в полупроводниковых кристаллах методом наведенного тока в РЭМ |
15-20 |
|
|
Аливов Я.И., Разгонов И.И., Якимов Е.Б. Определение
величин диффузионной длины и скорости поверхностной рекомбинации
неравновесных носителей из измерений спектров наведенного тока при оптическом
возбуждении |
21-23 |
|
|
Злобин В.А. Особенности формирования сигнала наведенного тока в р-п-структурах из карбида кремния |
24-26 |
|
|
Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н. Экспресс-метод измерения высот микрообъектов в РЭМ |
27-31 |
|
|
Гасенкова И.В., Чубаренко В.А., Тявловская Е.А., Свечникова Т.Е. Однородность твердых растворов на основе В^Тез и ЗЬ^Тез |
32-41 |
|
|
Гайнутдинов Р.В., Степина Н.Д., Толстихина АЛ., ФейгинЛ.А., Иванова В.Н., Кудрявцев В.В..Лебедева
Г.К., Николаев АЛ. АСМ-исследования пленок Ленгмюра-Блоджетт фуллеренсодержащих
поли(мет)акрилатов |
42-45 |
|
|
Гетманова Т.Н., Зайцев Б.Н., Рябичева Т.Г., Вараксин Н.А.,
Нечаева Е.А. Применение методов микроскопии к изучению морфологии микрокапсулированной формы вакцины |
46-50 |
|
|
Толстихина АЛ., Белугина Н.В., Гайнутдинов Р.В. Об использовании естественной поверхности скола кристаллов со спайностью для калибровки пьезосканера атомно-силового микроскопа |
51-56 |
|
|
Дьяконенко ИЛ., Рябчун А.А., Кривонос С.С. Наноструктура аморфных пленок стеклообразующих халькогенидных соединений |
57-60 |
|
|
Киселева Т.Ю., Сидорова Е.Н., Новикова А.А., Соколов В.Н., Левина В.В. Мониторинг образования промежуточных соединений при получении нанокристаллических Fe-Ni-композиций |
61-66 |
|
|
Попов В.А., Ходос И.И., Клименко ГЛ., Кондратенков М.Ю. Исследование структуры металломатричных композитов методами электронной микроскопии |
67-71 |
|
|
Николайчик В.И., Амелинкс С., КлинковаЛ.А., Барковский Н.В..Лебедев О.И., Ван Тендело Г. Электронно-микроскопическое исследование богатых висмутом оксидов системы Ba-Bi-0 |
72-79 |
|
|
Николайчик В.И., Зу К.Д., Ховмюллер С., КлинковаЛ.А. Применение методов электронной кристаллографии для расшифровки трехмерной упорядоченной структуры с большим размером сверхячейки |
80-86 |
|
|
Николайчик В.И., Учида М., Мацу и И., КлинковаЛ.А., Барковский Н.В. Электронно-микроскопическое исследование структуры упорядоченного сверхпроводника bo] _ ,Х,.ВЮз |
87-91 |
|
|
Дьяконенко НЛ., Семченко ГД., Старолат Е.Е. Электронно-микроскопическое исследование нитевидных кристаллов нитрида кремния |
92-95 |
|
|
Артёмов
В.В., Каневский В.М., Иванов Ю.М. Исследование
структуры CdTe
методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии |
96-98 |
|
|
Киселева Т.Ю., Сидорова Е.Н., Новикова А.А., Соколов В.Н., Левина В.В. Мониторинг образования промежуточных соединений при получении нанокристаллических Fe-Ni-композиций |
61-66 |
|
|
Новикова А.А., Сизов И.Г., Гвоздевер Р.С., Голубок Д.С., Киселева Т.Ю., Семенов А.П., Смирнягина Н.Н., Прусаков Б.А. Структурный анализ борированных слоев на поверхности малоуглеродистой стали до и после электронно-лучевой обработки |
99-103 |
|
|
Гончаренко Ю Д., Евсеев Л.А.,
Казаков В.А., Крюков Ф.Н., Никитин ОМ. Применение метода ВИМС для
исследования облученного ядерного оксидного топлива |
104-107 |
|
|
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А. Диагностика фазового
состава системы CeO^/SiQ 11) по оже-спектрам
при ионном профилировании |
108-110 |