Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2003/08-2003.htm
Дата изменения: Tue Mar 2 10:13:06 2004
Дата индексирования: Tue Oct 2 12:03:50 2012
Кодировка: koi8-r
Поисковые слова: millennium
СОДЕРЖАНИЕ № 82003 г

СОДЕРЖАНИЕ № 82003 г

 

 

Петраков А.П. Рентгенодифракционные исследования изменения кристаллической структуры кремния в процессе ионной имплантации, лазерной и термической диффузии примеси

3-9

Ткачук П.Н., Ткачук В.И., Раранский Н.Д- Влияние состояния поверхности монокристаллов CdTe на процессы аннигиляции носителей заряда

10-17

Патракеев А.С., Черныш B.C., Шульга В.И. Угловые распределения атомов при распылении кремния ионами аргона низких энергий

18-22

Тржасковская М.Б., Нефедов В.И., Яржемский В.Г., Зарган Р. Параметры углового распределения фотоэлектронов в октупольном приближении

23-26

Тулинов А.Ф., Похил Г.П., Попов В.П., Куликаускас B.C. Анализ структуры дельта-слоя сурьмы в кристалле кремния методом каналирования

27-29

Окотруб А.В..Дуда Т.А., ГаунД.Д., Гусельников А.В., Шубин Ю.В., Томашевич Е.В., Беликова Г.С., Турская Т.Н. Применение в качестве кристалла-анализатора этиленгликольдистеарата для анализа ультрамягкого рентгеновского излучения

30-34

Бедилов М.Р., Тожихонов Э.Н.,Давлетов И.Ю., Сабитов М.С. Эмиссия многозарядных ионов в зависимости от условия фокусировки лазерного излучения на поверхности W

35-38

Александров В.Д., Фролова С.А., Сельская И.В. Электронно-микроскопическое исследование кинетики зародышеобразования в аморфных пленках селена

39-42

Садовская Н.В., Томашпольский Ю.Я., Калева Г.М., Политова Е.Д. Фазовый анализ ВТСП на основе вторично-электронной эмиссиометрии. Токовые зависимости

43-48

Багаев В.Н., Куликаускас B.C., Черепанов А.Н., Шульгин Б.В., Кидибаев М.М. Определение содержания и местоположения примесей урана и церия в кристаллах NaF

49-51

Гаврюшин А.В., Надирадзе А.Б. Эрозионная модель влияния ионной бомбардировки на прозрачность кварцевого стекла

52-60

Зыков Б.М., Нардая Ю.И., Сабельников A.M. Методы электронной спектроскопии для изучения химического состояния и контроля чистоты поверхности твердых тел

61-73

Кадыржанов К.К., Керимов Э.А., ПлаксинД.А., Русаков B.C., Туркебаев Т.Э. Мессбауэровские исследования фазообразования в слоистых системах железо-бериллий

74-78

Козлов Г.В., Липатов Ю.С. Влияние фрактальной поверхности частиц наполнителя на структуру полимерных композитов

79-82

МаскаеваЛ.Н., Иванов П.Н., Марков В.Ф., Воронин В.И. Исследование гидрохимически осажденных пленок твердых растворов замещения в системе Pb(II)-Cu(I)-S

83-89

Нуприенок И.С., Шибко А.Н. Фазовые превращения в пленках ванадия и композиции ванадий-кремний при комбинированной обработке

90-96

Рехвиашвили С.Ш. Статистическая модель трения в наноконтактах

97-100

Ташмухамедова Д.А., Умирзаков Б.Е., Балтаев Э.У. Формирование наноразмерных силицидных фаз в эпитаксиальных пленках кремния и изучение их физико-химических свойств

101-104

Алиев А.А., Шалимов З.Т. Исследование ориентационной зависимости эмиссии оже-электронов из монокристаллов Мо и W при бомбардировке их пучком ионов и электронов

105-112