Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2003/08-2003.htm
Дата изменения: Tue Mar 2 10:13:06 2004 Дата индексирования: Tue Oct 2 12:03:50 2012 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п п р п |
СОДЕРЖАНИЕ № 82003 г
Петраков А.П. Рентгенодифракционные
исследования изменения кристаллической структуры кремния в процессе ионной
имплантации, лазерной и термической диффузии примеси |
3-9 |
Ткачук П.Н., Ткачук В.И., Раранский
Н.Д- Влияние состояния поверхности монокристаллов CdTe на процессы
аннигиляции носителей заряда |
10-17 |
Патракеев А.С., Черныш
B.C., Шульга В.И. Угловые
распределения атомов при распылении кремния ионами
аргона низких энергий |
18-22 |
Тржасковская М.Б.,
Нефедов В.И., Яржемский В.Г., Зарган
Р. Параметры углового распределения фотоэлектронов в октупольном
приближении |
23-26 |
Тулинов А.Ф., Похил Г.П.,
Попов В.П., Куликаускас B.C. Анализ структуры дельта-слоя сурьмы в кристалле кремния методом каналирования |
27-29 |
Окотруб А.В..Дуда Т.А., ГаунД.Д.,
Гусельников А.В., Шубин Ю.В., Томашевич Е.В., Беликова Г.С., Турская Т.Н. Применение в качестве
кристалла-анализатора этиленгликольдистеарата для
анализа ультрамягкого рентгеновского излучения |
30-34 |
Бедилов М.Р., Тожихонов
Э.Н.,Давлетов И.Ю., Сабитов
М.С. Эмиссия многозарядных ионов в зависимости от условия фокусировки
лазерного излучения на поверхности W |
35-38 |
Александров
В.Д., Фролова С.А., Сельская И.В. Электронно-микроскопическое
исследование кинетики зародышеобразования в аморфных пленках селена |
39-42 |
Садовская Н.В., Томашпольский
Ю.Я., Калева Г.М., Политова Е.Д. Фазовый анализ
ВТСП на основе вторично-электронной эмиссиометрии. Токовые
зависимости |
43-48 |
Багаев В.Н., Куликаускас
B.C., Черепанов А.Н., Шульгин
Б.В., Кидибаев М.М. Определение содержания и местоположения
примесей урана и церия в кристаллах NaF |
49-51 |
Гаврюшин
А.В., Надирадзе А.Б. Эрозионная модель влияния ионной
бомбардировки на прозрачность кварцевого стекла |
52-60 |
Зыков Б.М., Нардая Ю.И.,
Сабельников A.M. Методы электронной
спектроскопии для изучения химического состояния и контроля чистоты
поверхности твердых тел |
61-73 |
Кадыржанов К.К.,
Керимов Э.А., ПлаксинД.А., Русаков B.C., Туркебаев
Т.Э. Мессбауэровские исследования фазообразования в слоистых системах железо-бериллий |
74-78 |
Козлов Г.В., Липатов Ю.С. Влияние фрактальной
поверхности частиц наполнителя на структуру полимерных композитов |
79-82 |
МаскаеваЛ.Н., Иванов
П.Н., Марков В.Ф., Воронин В.И. Исследование гидрохимически
осажденных пленок твердых растворов замещения в системе Pb(II)-Cu(I)-S |
83-89 |
Нуприенок И.С., Шибко
А.Н. Фазовые превращения в пленках ванадия и композиции ванадий-кремний
при комбинированной обработке |
90-96 |
Рехвиашвили С.Ш.
Статистическая модель трения в наноконтактах |
97-100 |
Ташмухамедова Д.А., Умирзаков Б.Е., Балтаев Э.У.
Формирование наноразмерных силицидных
фаз в эпитаксиальных пленках кремния и изучение их физико-химических свойств |
101-104 |
Алиев
А.А., Шалимов З.Т. Исследование ориентационной зависимости эмиссии оже-электронов из монокристаллов Мо и W при бомбардировке
их пучком ионов и электронов |
105-112 |