Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2002/01-2002.htm
Дата изменения: Tue Feb 10 09:58:18 2004
Дата индексирования: Tue Oct 2 12:02:02 2012
Кодировка: koi8-r

Поисковые слова: п п п п п п п п р п
СОДЕРЖАНИЕ

СОДЕРЖАНИЕ

Номер 1, 2002

 

МАТЕРИАЛЫ РАБОЧЕГО СОВЕЩАНИЯ "РЕНТГЕНОВСКАЯ ОПТИКА-2001"

 

 

Структура, термическая стойкость и оптические свойства многослойных рентгеновских зеркал Sc/Si и Sc/W/Si/W

 

Д.Л.Воронов, Е.Н.Зубарев, В.В.Кондратенко, А.В.Пеньков, Ю.П.Першин, А.Г.Пономаренко, А.В.Виноградов, Ю.А.Успенский, Д.Силиљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

6

 

 

Дифракция рентгеновского излучения на 127^ Y-срезе кристалла LiNbO3, промодулированном коротковолновой поверхностной акустической волной

 

Д.В.Иржак, Д.В.Рощупкин, Р.Тукулу, О.Матонљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

10

 

 

Микроканальный кремний

 

И.Л.Шульпина, В.В.Ратников, А.Д.Ременюк, А.Г.Ткаченко, А.В.Нащекин, Е.В.Астрова

17

 

 

Определение толщины сверхтонких аморфных пленок по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях некомпланарной дифракции

 

В.А.Бушуев, Р.М.Имамов, Э.Х.Мухамеджанов, А.П.Орешкољљљљљљљљљљ

22

 

 

Возможности комбинационного рассеяния мессбауэровского излучения для изучения динамики магнитных кластеров в тонких пленках

 

В.Г.Семенов, В.Н.Гитцович, С.М.Иркаев, Д.А.Котовљљљљљљљљљљљљљљљ

27

 

 

Многослойные дисперсионные элементы на основе B4C для спектральной области l=6.7-8нм

 

С.Ю.Зуев, Е.Б.Клюенков, К.А.Прохоров, Н.Н.Салащенкољљљљљљљљљ

32

 

 

Рентгеновская топография стоячих поверхностных акустических волн

 

Д.В.Иржак, Д.В.Рощупкинљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

36

 

 

Рентгеновские бипризмы из кремния и кристаллов синтетического алмаза

 

Л.Г.Шабельников, И.А.Щелоков, В.А.Юнкин, Ю.Н.Пальянов, А.Ф.Хохряковљљљљљљљ

41

 

 

О соответствии формы поверхности вращающейся жидкости преломляющему профилю рентгеновских линз

 

Л.Г.Шабельников, Э.Б.Фельдман, М.Г.Рудавецљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

46

 

 

Фокусировка жесткого рентгеновского излучения с помощью френелевских составных линз

 

В.В.Аристов, М.В.Григорьев, А.А.Исоян, А.В.Куюмчян, Е.В.Шулаковљљљљљљљ

48

 

 

Изготовление цилиндрических поверхностей методами термопластического и упругого изгиба стеклянных пластин

 

А.А.Ахсахалян, А.Д.Ахсахалян, В.А.Муравьев, А.И.Харитоновљљљљљљљљљ

51

 

 

Рентгеновская фазовая многослойная решетка скользящего падения

 

Н.В.Коваленко, С.В.Мытниченко, В.А.Черновљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

55

 

 

Калибровка пропускающей дифракционной решетки в ультрамягкой рентгеновской области методом аномального рассеяния

 

А.В.Бессараб, А.А.Горбунов, Н.В.Коваленко, К.Э.Купер, А.А.Легкодымов, В.Ф.Пиндюрин, Н.А.Суслов, В.А.Черновљљљљљљљљљ љљљљљљљљљ

59

 

 

Применение многослойного двухзеркального монохроматора синхротронного излучения для EXAFS-спектроскопии соединений фтора

 

Н.В.Коваленко, К.Э.Купер, А.А.Легкодымов, С.В.Мытниченко, В.Ф.Пиндюрин, В.А.Чернов љљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

63

 

 

Теория зеркального отражения от многослойных периодических структур в условиях скользящей дифракции рентгеновских лучей на кристаллической подложке

 

В.А.Бушуев, А.П.Орешкољљљљ љљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

67

 

 

Использование обратимых изменений интенсивности рентгеновских дифракционных максимумов при лазерном нагреве для определения качества кристаллов KDP

 

Е.Л.Ким, Е.В.Зайцева, В.Н.Портнов, В.Н.Трушин, Е.В.Чупруновљљљљ

73

 

 

Рентгеновская дифракционная оптика многослойных квантовых нитей

 

В.И.Пунеговљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

76

 

 

Измерение характеристик оптических элементов рентгеновских телескопов

 

С.Ю.Зуев, А.В.Митрофановљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

81

 

 

Исследование временной стабильности характеристик многослойных рентгеновских зеркал для солнечного рентгеновского телескопа СРТ-К и рентгеновского спектрометра РЕС-К

 

В.А.Слемзин, И.А.Житник. Зуев, С.В.Кузин, А.В.Митрофановљљљљ

84

 

 

Измерение коэффициента пропускания поликаппилярных рентгеновских линз методами протонного и электронного возбуждений излучения

 

С.В.Никитина, В.П.Петухов, А.А.Приладышевљљљљ љљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

87

 

 

Исследование ВТСП-кристаллов Nd2 - xCexCuO4 методом дифракционной топографии на синхротронном излучении

 

В.В.Квардаковљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

91

 

 

Наблюдение блоховских доменных границ в кристалле гематита методом секционной топографии на синхротронном излучении

 

В.В.Квардаков, Ж.Барушельљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

94

 

 

Стенд для диагностики рентгенорезистов на основе лазерно-плазменного источника с водоструйной мишенью

 

С.А.Булгакова, Н.В.Востоков, А.Ю.Климов, А.Я.Лопатин, В.И.Лучин, Л.М.Мазанова, А.С.Малыгин, В.В.Рогов, Н.Н.Салащенкољљљљљљљљљљљљљљљљљљ

97

 

 

Топографический контраст приповерхностных дефектов в геометрии Бормана-Леемана

 

Е.В.Шулаков, И.А.Смирнова, Э.В.Суворовљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

100

 

 

Основы теории меридиональной фокусировки рентгеновских лучей

 

Л.Н.Гынгазов, С.И.Тютюнниковљљљљљљљљљљљљљљљ љљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљљ

106-112