|
Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2000/12-2000.htm
Дата изменения: Fri Apr 17 11:33:27 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 05:05:58 2016 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п |
Содержание
? 12, 2000
XI
РОССИЙСКИЙ СИМПОЗИУМ ПО РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
И
АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ (РЭМ-99)
|
Пространственное
разрешение, информационная глубина и контраст изображений подповерхностных
структур, визуализируемых в отраженных электронах в
РЭМ |
|
|
Э. И. Рау, В. О.
Савин, Р. А. Сенное
|
4 |
|
Электронная
спектроскопия диэлектриков в РЭМ |
|
|
М. В. Андрианов, А. В. Гостев, Э. И. Рау, Ж. Казо, О. Жбара, М. Белхаи
|
9 |
|
Стереомикротомография - новый способ изучения трехмерных микроструктур в РЭМ |
|
|
С. Л. Дицман, В. Н. Мельник, Э. И. Рау,
Р. А. Сенное, В. Н. Соколов, Д. И. Юрковец |
13 |
|
Исследование
треков высокоэнергетических ионов в полимерах методом атомно-силовой
микроскопии |
|
|
Л. Л. Толстихина, А. И. Виленский,
Р. В. Гайнутдинов, П. Ю. Апель,
Б. В. Мчедлишвили |