Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2000/02-2000.htm
Дата изменения: Wed Jan 20 11:57:47 2010
Дата индексирования: Tue Oct 2 12:10:21 2012
Кодировка: koi8-r
Поисковые слова: reflection nebula
СОДЕРЖАНИЕ

СОДЕРЖАНИЕ

 

Номер 2, 2000

 

XVII РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

 

 

 

Методические аспекты режима поверхностной электронно-индуцированнон э.д.с. в растровой электронной микроскопии

 

Э. И. Pay. Н. Н. Седов. Ху Вэнью. Чжу Шнчю                                                                                          

4

Экспериментальное определение трансмиссионных характеристик: и энергетического разрешения тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа

 

Э. И. Pay, В. О. Савин. Р. А. Сенное, М. Н. Филиппов. Ху Вэнмо                                                         

10

Исследование методом атомно-силовой микроскопии топографии поверхности и доменной структуры кристаллов ТГС с различной степенью дефектности

 

Н. В. Белушни, А.Л. Толстихина, С. А. Шикин                                                                                              

22

Структура пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе амфифил-полимерных комплексов

 

Н.Д. Степана, А .Л. Толстихини, Ц. В. Клечковския.Л. Л. Фейг.ин. Р. В. Тальразе, Т. Л. Лебедева, Г. А. Шандрюк

27

Исследование методом растровой электронной микроскопии нелегнрованных и легированных магнием эпитаксиальных структур нитрида галлия

 

А. В. Говорков, А. Я. Поляков, Н. Б. Смирнов, А. С. Усиков, Б. В. Путный, У. В. Лундин. Н. М. Шмидт

30

Сравнительное сопоставление ОЭС и СХПЭ как методов анализа фазового состава тонкопленочных оксидных систем при ионном профилировании

 

В. Г. Бешенков, В. Т. Волков, А. Г. Знаменский. В. А. Марченко                                                          

35

Электронная микроскопия трековых мембран из полиимида и полиметилметакрилата

 

Д. Л. Загорский. В. В. Березкин, Л. И. ВнленскиН, Т. В. Цыганова, Б. В. МчеОлишвили                   

41

Метод растровой электронной микроскопии как способ диагностики и исследования пироэлектрических свойств и кристаллах ниобата лития

 

Л. С. Коханчик. Е. Б. Якимов                                                                                                                     

46

Метод оценки однородности и изотропности твердых тел по их РЭМ-изображениям в случае многомодальных распределений элементов по размерам

 

С. И. Ковоаса, Ю. Г. Ермаченко, В. Н. Соколов                                                                                     

51

Исследование на растровом электронном микроскопе слоев нитрида галлия, полученных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии

 

А. В. Говорков, А. И. Поляков, Н. Б. Смирнов, М. Г. Мильнидски, П. Ц. В. Цветков, С. И. Степанов,  А. Е. Николаев, В. А .Дмничрчев.

55

Особенности роста Bi2Sr2Can-1CunO2n+4 в щели кристаллического Mg0

 

В. Ясутис, Б. Венгалис, А. Паулавичюс, Д. Франкявичюс                                                                     

61

Самоорганизационный механизм формирования твердых растворов LaF3:РЗИ

 

К. М.Девяткова.Л. И.Девяткова, В. Б. Тверской                                                                                  

65

Электронно-микроскопическое исследование влияния толщины на рост кристаллов в аморфных пленках селена и соединений сурьмы

 

В. Ю. Колосов, Л. М. Веретенников                                                                                                         

70

Катодолюминесценция монокристаллического фосфида индия n-типа проводимости

 

Н. Н. Михеев, М. А. Степовнч. В. И. Петров, Г.. В. Невструеви                                                        

75

Математическое моделирование и экспериментальное изучение полупроводниковых четверных твердых растворов замещения системы In1-xGaxP1-yAsy

 

А. А. Белов, В. И. Петров, Е. М. Степович                                                                                             

80

Изучение структуры и фазового состава поверхности раздела: неметаллическое включение-металлическая связка композиционного материала B4C-(Ti-Ni-Mo)

 

Г. Н. Дубровская, Н. В. Олексеенко                                                                                                          

87

Правила для авторов                                                                                                                         

95