Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2000/02-2000.htm
Дата изменения: Wed Jan 20 11:57:47 2010 Дата индексирования: Tue Oct 2 12:10:21 2012 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п |
| |
Номер 2, 2000
|
|
XVII
РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
|
|
|
|
Методические аспекты режима поверхностной электронно-индуцированнон э.д.с. в растровой электронной микроскопии |
|
4 | |
Экспериментальное определение трансмиссионных характеристик: и энергетического разрешения тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа |
|
Э. И. Pay, В. О. Савин. Р. А. Сенное,
М. Н. Филиппов. Ху Вэнмо
|
10 |
Исследование методом атомно-силовой микроскопии топографии поверхности и доменной структуры кристаллов ТГС с различной степенью дефектности |
|
Н. В. Белушни, А.Л. Толстихина, С.
А. Шикин |
22 |
Структура пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе амфифил-полимерных комплексов |
|
Н.Д. Степана, А .Л. Толстихини, Ц. В. Клечковския.Л. Л. Фейг.ин. Р. В. Тальразе,
Т. Л. Лебедева, Г. А. Шандрюк |
27 |
Исследование методом растровой электронной микроскопии нелегнрованных и легированных магнием эпитаксиальных структур нитрида галлия |
|
А. В. Говорков, А. Я.
Поляков, Н. Б. Смирнов, А. С. Усиков, Б. В. Путный, У. В. Лундин. Н.
М. Шмидт |
30 |
Сравнительное сопоставление ОЭС и СХПЭ как методов анализа фазового состава тонкопленочных оксидных систем при ионном профилировании |
|
В. Г. Бешенков, В. Т. Волков, А. Г. Знаменский. В. А. Марченко |
35 |
Электронная микроскопия трековых мембран из полиимида и полиметилметакрилата |
|
Д. Л. Загорский. В. В. Березкин, Л.
И. ВнленскиН, Т. В. Цыганова, Б. В. МчеОлишвили |
41 |
Метод растровой электронной микроскопии как способ диагностики и исследования пироэлектрических свойств и кристаллах ниобата лития |
|
46 | |
Метод оценки однородности и изотропности твердых тел по их РЭМ-изображениям в случае многомодальных распределений элементов по размерам |
|
С. И. Ковоаса, Ю. Г. Ермаченко, В. Н. Соколов |
51 |
Исследование на растровом электронном микроскопе слоев нитрида галлия, полученных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии |
|
А. В. Говорков, А. И.
Поляков, Н. Б. Смирнов, М. Г. Мильнидски, П.
Ц. В. Цветков, С. И. Степанов,
А. Е. Николаев, В. А .Дмничрчев. |
55 |
Особенности роста Bi2Sr2Can-1CunO2n+4 в щели кристаллического Mg0 |
|
В. Ясутис, Б. Венгалис,
А. Паулавичюс, Д. Франкявичюс
|
61 |
Самоорганизационный механизм формирования твердых растворов LaF3:РЗИ |
|
К. М.Девяткова.Л. И.Девяткова, В. Б. Тверской |
65 |
Электронно-микроскопическое исследование влияния толщины на рост кристаллов в аморфных пленках селена и соединений сурьмы |
|
70 | |
Катодолюминесценция монокристаллического фосфида индия n-типа проводимости |
|
Н. Н. Михеев,
М. А. Степовнч. В. И. Петров, Г.. В. Невструеви
|
75 |
Математическое моделирование и экспериментальное изучение полупроводниковых четверных твердых растворов замещения системы In1-xGaxP1-yAsy |
|
А. А. Белов, В. И.
Петров, Е. М. Степович |
80 |
Изучение структуры и фазового состава поверхности раздела: неметаллическое включение-металлическая связка композиционного материала B4C-(Ti-Ni-Mo) |
|
Г. Н. Дубровская, Н. В. Олексеенко
|
87 |
Правила для
авторов
|
95 |