Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2004/07-2004.htm
Дата изменения: Thu Jul 15 11:29:16 2004
Дата индексирования: Tue Oct 2 12:05:05 2012
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п р п р п р п
СОДЕРЖАНИЕ

СОДЕРЖАНИЕ

Номер 7, 2004

 

Блок управления пространственным положением рентгеновского пучка экспериментальной синхротронной станции "Ленгмюр"

 

В. В. Лидер, Е. Ю. Терещенко, С. И. Желудева, В. И. Вологин, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков

5

Проект экспериментальной станции "Ленгмюр" для Курчатовского центра синхротронного излучения

 

Е. Ю. Терещенко, В. В. Лидер, С. И. Желудева, В. И. Вологин, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков

15

Количественный анализ малых концентраций меди в микроанализаторах с энергодисперсионным спектрометром

 

В. А. Злобин

24

Исследование меза-структуры и состава контактной системы мощного быстродействующего полупроводникового прибора

 

О. И. Бономорский, В. А. Злобин, К. С. Медведев

27

Исследования наноструктурированных пленок меди методами растровой и атомно-силовой микроскопии

 

И. Н. Серов, В. И. Марголин, Н. А. Потсар, И. А. Солтовская, В. А. Тупик, В. С. Фантиков

31

Обработка трехмерного изображения поверхности

 

И. Н. Серов, Г. Н. Лукьянов

35

Расчет дополнительных аберраций, возникающих вследствие погрешностей изготовления тороидальных магнитных отклоняющих систем и мультипольных корректоров

 

М. О. Зотова, Л. Б. Розенфельд, Б. Н. Васичев

37

Анализ структуры и состава пленок Cu1 - xIn1 - xZn2xSe2, полученных методом селенизации

 

В. Ф. Гременок, Е. П. Зарецкая, О. Н. Сергеева, В. Н. Пономарь,

 

В. В. Цыбульский, В. А. Ухов

44

О РОЛИ ТЕРМОЭЛЕКТРЕТНОГО ЭФФЕКТА В ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ЛИТОГРАФИИ

 

Е. А. Грачев, С. И. Зайцев, Н. Н. Негуляев

50

Исследование систем металл-металл и металл-оксид-металл методами полевой электронной микроскопии

 

Д. В. Жуков, Я. Плышек, З. Кнор

57

Дифракция электронов с характеристическими потерями энергии при симметричной ориентации кристалла

 

Н. И. Боргардт, А. В. Зыков

62

Состояние границ раздела в гетероэпитаксиальной системе Si/YSZ/Si(100) по результатам оже-профилирования и детального исследования края кратера ионного травления

 

В. Г. Бешенков, А. Ф. Вяткин, А. Г. Знаменский, В. А. Марченко,

С. В. Московкин

68

Диффузия водорода через металлическую мембрану с учетом элементарных процессов на поверхности в стационарном приближении

 

В. В. Лосев, И. В. Кумпаненко

71

Фазовые превращения в тонких фольгах нержавеющая сталь-бериллий при термическом отжиге

 

К. К. Кадыржанов, В. С. Русаков, Т. Е. Туркебаев, М. Ф. Верещак, А. К. Жубаев

75

Электрохромная эффективность аморфных тонких пленок сложного оксида вольфрама

 

Б. М. Хуболов, В. П. Подлинов, Ж. Х. Хоконова

86

Влияние двойникования на формирование структуры и магнитной анизотропии в электролитических многослойных пленках Co/Cu

 

Т. А. Точицкий, Л. В. Немцевич, А. Э. Дмитриева

91

О связи фотолюминесцентных свойств пористого кремния с его реальной структурой

 

О. А. Кулинич, М. А. Глауберман, Н. Н. Садова

96

Реакция гибели CH3-радикалов в интервале термператур 300-1000 К

 

А. Е. Городецкий, Р. Х. Залавутдинов, А. П. Захаров, С. П. Внуков, И. Г. Варшавская

99

Угловые и энергетические распределения ионов азота, отраженных от медной поверхности

 

Н. В. Новиков, Я. А. Теплова, Ю. Ф. Файнберг

105

Нанотрубки в эпитаксиальных пленках 2H-AIN на подложках Si(111)

 

М. Н. Ковальчук, У. Кайзер, И. И. Ходос

109