Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/1999/7-99.html
Дата изменения: Thu Apr 9 17:34:04 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 04:57:57 2016 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: martian surface |
СОДЕРЖАНИЕ
Номер 7,1999
ВСЕРОССИЙСКОЕ
РАБОЧЕЕ СОВЕЩАНИЕ "ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ'
(2-5
марта, 1998 г., Н. Новгород, Институт физики микроструктур РАН)
Истинные
атомные структуры на поверхности СаАх (001),
выращенной методами молекулярно-лучевой эпитаксии |
|
Р.
3. Бахтизин, Т. Хашицуме,
К.-К. Шуе, Т. Сакурай
|
7 |
Сверхвысоковакуумный
сканирующий туннельный микроскоп с изменяемой температурой образца |
|
К.
Н. Ельцов, А. Н. Климов, А. В. Кузмичев, С. Л. Прядкин, В. Ю. Юров
|
18 |
Прямое
наблюдение островков А$С1 методом сканирующей туннельной микроскопии в
реакции хлорирования А$(111) |
|
Б.
В. Андрюшечкин, К. Н. Ельцов, В. М. Шевлюга, В. Ю. Юров
|
23 |
Применение
Фурье-анализа СТМ-изображений для измерения
структурных параметров адсорбированных монослоев.
Структура Аg(111)-(17 х
17)-С1 |
|
Б.
В. Андрюшечкин, К. Н. Ельцов, В. М. Шевлюга, В. Ю. Юров
|
30 |
Локальная
диагностика степени легирования поверхности полупроводника с помощью
сканирующего микроскопа электростатических сил. Численное моделирование |
|
М.
Л. Фелыитын, А. О. Голубок
|
35 |
Исследование
текстурирования монослойных
графитовых пленок на поверхности (111 )1г и (1010)Ке
методами сканирующей туннельной и атомной силовой микроскопии |
|
З.Вакар,
Н. Р. Галлъ, И. В. Макаренко, Е. В. Рутьков, А. Н. Титков, А. Я. Тонтегоде,
М. М. Усуфов
|
39 |
Исследование
полевой эмиссии нанокристаллических алмазных пленок
методом сканирующей туннельной микроскопии |
|
А.
Т. Рахимов, В. А. Самородов, Е. С. Солдатов, Н. В.
Суетин, М. А. Тимофеев. А. С. Трифонов, В. В. Ханин |
43 |
Исследование
корреляции эмиссионных и структурных характеристик алмазных пленок методом
сканирующей туннельной микроскопии |
|
А.
Т. Рахимов, В. А. Самородов, Е. С. Солдатов, Н. В.
Суетин, М. А. Тимофеев, А. С. Трифонов, В. В. Ханин ' |
47 |
Особенности
модификации поверхности олова импульсами напряжения в сканирующем туннельном
микроскопе на воздухе |
|
Г.
Г. Владимиров, А. В. Дроздов, Н. Е. Линьков, Л. Н. Чубарь
|
52 |
Квантовохимическое численное моделирование поверхностных электронных
плотностей |
|
И.
А. Валуев, А. С. Каклюгин, Г. Э. Норман
|
56 |
Формирование
квантовых точек С<15е на поверхности 2п8е и их исследование методом
сканирующей туннельной микроскопии |
|
М.
В. Байзер, В. Ю. Витухин,
И. В. Закурдаев, С. Ю. Садофьев, К). Г. Садофьев |
61 |
Наблюдения
поля пятен вблизи края нанофасетки на поверхности
кристаллов методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии |
|
М.
В. Байзер, В. Ю. Витухин,
И. В. Закурдаев, Д. С. Фирсов
|
64 |
Эмиссионные
процессы при малых расстояниях острие-объект |
|
Л.
М. Баскин, Г. Г. Владимиров, В. Н. Шредник |
67 |
Статистические
методы локального микроанализа электронной структуры поверхности полевых
эмиттеров |
|
С.
С. Гоц, Р. Р. Галлямов,
С. А. Иванов, Р. 3. Бахтизин
|
72 |
Флуктуационный
обмен энергией между проводниками. Квазистационарный
предел |
|
И.
А.Дорофеев |
78 |
Исследование
микромагнетизма и перемагничивания наночастиц ¹ с помощью магнитного силового
микроскопа |
|
А.
А. Бухараев, Д. В. Овчинников, II. И. Нургазизов, Е. Ф. Куковицкий,М.
Кляйбер, Р. Вейсендангер |
82 |
Атомно-силовая
микроскопия в режиме т кии имплантированной двуокиси кремния при химическом
травлении в растворе НР |
|
Л.
Л. Бухараев, А. А. Бухараеви,
Н. И. Нургазизов
|
87 |
Влияние
формы и шероховатости острия на эффективность освещения образца в ближнем
поле |
|
Г.
С. Жданов
|
91 |
Молекулярно-биологические,
микробиологические и медицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии |
|
И.
В. Яминский
|
95 |
Микроскопический
контроль на содержание вируса полиомиелита |
|
И.
В. Яминский, А. В. Большакова, Б. А.Логинов, В. В. Протасенко, А. Л. Суворов, М. А. Козодаев, Д.С. Волнин
|
100 |
Визуализация
РНК и рибонуклеопротеидов вируса табачной мозаики методами атомно-силовой
микроскопии |
|
М.
О. Галлямов, Ю. Ф. Дрыгин,
И. В. Яминский
|
104 |
Атомно-силовая
микроскопия протеолипосом, содержащих АТФ-синтетазный комплекс |
|
И. Киселева, Л. С. Ягужинский,
И. В. Яминский, М. Ф. Янюшин
|
109 |
|