Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/1998/03-98.htm
Дата изменения: Tue Apr 7 16:55:23 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 04:57:30 2016 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: п п п п п п п п п |
Наткапец И., Пучков А.В. Нейтронная спектрометрия на импульсном реакторе ИБР-2 |
5 |
Дышеков А.А., Хапачев Ю.П. Динамическая рентгеновская дифракция в кристалле с экспоненциальным градиентом деформации. I. Точное аналитическое решение и основные качественные особенности волнового поля |
20 |
Нефедов А.А., Фанченко С.С., Шипов И.А., Бартоломеус Л., Габузян Т.. Мориц В. Исследование структуры Pt/LaF3/Si поверхностно-чувствительными методами рассеяния рентгеновских лучей. |
27 |
Юзевич В.Н. Моделирование процесса адсорбции в приповерхностном слое металла. |
32 |
Махвиладзе Т.М., Паукшто М.В., Леора С.Н. Молекулярно-динамическое исследование процесса взаимодействия кластеров с поверхностью подложки в процессе молекулярно-лучевой эпитаксии. |
38 |
Перов А.С., Перова В.И., Перов А.А. Структура поверхности (110) Si, растущей из молекулярных пучков в вакууме.. |
45 |
Герасимов В.В., Мица В.М., Айвазов А.А. Концентрационный профиль элементов и локальная координация в пленках a -Si1-xNx:H |
49 |
Монахов В.В., Комолов А.С. Электрофизические свойства Ленгмюр-Блоджетт пленок молекул корбатина на подложке из аморфного кремния. |
54 |
Галицын Ю.Г., Мансуров В.Г., Мараховка И.И. Плоскостное каналирование быстрых электронов и систематические брэгговские отражения в дифракции от граней InAs. |
58 |
Дюльдя С.В., Рожков В.В., Тихоненков И.Э. Малоугловое отражение электронов низких энергий от поверхности твердого тела. |
66 |
Анисимкин В.И., Максимов С.А" Калиендо Ч., Верона Э. Адсорбция водяных паров на кварце, палладии и сплаве палладия с никелем. |
73 |
Баранов М.А., Баяикин В.Я., Дроздов А.Ю. Компьютерное моделирование обратного рассеяния ионов гелия от поверхностей многокомпонентных мишеней. |
79 |
Черников В.Н., Захаров А.П. Газовое распухание в приповерхностных слоях бериллия, имплантированного при различных температурах ионами дейтерия и гелия, до и после отжига |
84 |
Котенко В.Г. К вопросу о выборе вида аналитического приближения для угловой зависимости коэффициента физического распыления поверхности тел |
101 |
|
|
Международное рабочее совещание "Приборы и методы рентгеновской спектроскопии на пучках синхротронного излучения |
104 |