Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/1998/01-98.htm
Дата изменения: Tue Apr 7 16:55:23 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 04:57:25 2016 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п |
N1 1998
XVI РОССИЙСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ЭЛЕКТРОННОИ МИКРОСКОПИИ
Михссв Н.Н., Степопич М.А. Обратное рассеяние электронов зонда растрового электронного микроскопа в многослойных тонкопленочных структурах при нормальном падении пучка |
6 |
Говорков А.В., Поляков А.Я., Смирнов Н.Б., Сковронски М., Мильвидский М.Г. Исследование на РЭМ в режимах микрокатодолюмннесценции и наведенного тока слоев GaN и AIGaN, выращенных на сапфире методом газофазной эпитаксии с использованием металлоорганических соединений |
14 |
Злобин В.А. Применение метода наведенного тока для исследования интегральных полупроводниковых приборов большой мощности |
20 |
Батов Д.В., Иванов Л.С., Пегов B.C., Петров В.И., Степович М.А., Филиппов М.Н. Получение и электронно-зондовые исследования структуры SiC осажденного из газовой фазы на различные типы подложек |
26 |
Соколов В.Н., ЮрковецД.И., РазгулипаО.В., Мельник В.Н. Программно-аппаратный комплекс для исследования микроморфологии поверхности твердых тел по РЭМ-изображениям |
33 |
Бухапов В.М., Миннсбасв К.Ф ., Тубольцев B.C., Черныш B.C. Структура пленок YBaCuO, напыленных на монокристалл SrTiO3 (100) |
42 |
Бешепков В.Г., Ермолов С.Н., Карпов М.И., Коржов В.П. Диагностика фазового состава YiBa2Cu3O7-x токонecyщих элементов на подложках CuAl бронзы по оже-спектрам при ионном профилировании |
46 |
Акчурии М.Ш., Урусовская А.А. РЭМ-КЛ in situ исследование деформации монокристаллов CsI |
53 |
Бсшеиков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А. Совершенные пленки фианита (Zr02+Y203) на кремнии (100) |
59 |
Образцов А.Н., Караванский В.А., Окуши X., Ватанабе X. О пространственной локализации центров люминесценции в пленках пористого кремния |
64 |
Киреев В.А., Разгонов И.И. Формирование сигнала модуляционной катодолюминесценции в планарных структурах с большой диффузионной длиной |
71 |
Мптрофанов А.В., Пудонин Ф.А., Филиппов М.Н. Контраст изображения алюминиевых пленок, прошедших радиационную обработку вакуумным ультрафиолетовым излучением |
79 |
Назаров М.В., Назарова Т.А., Сушкевич К.Д., Гареева A.P., Петров В.И. Изменения поверхностных свойств кристаллов MgO под влиянием термообработки в средах, содержащих А1 |
86 |
Еловиков С.С., Тажиева Г.P., Сушкова Ю.В., Зыкова Е.К., Семенов А.Э. Радиационные повреждения поверхностей галогенидов цепочных и щелочноземельных металлов низкоэнергетическими электронами |
94 |
Зайцев С.И., Ушаков Н.Г. Определение параметров микрошероховатости по сигналу РЭМ |
102 |
Коротаев А.Д., Тюменцев А.Н., Почивалов Ю.И.,
Овчинников С.В., Литовченко И.Ю., Ремнев Г.Е., Исаков И.Ф. Дефектная субструктура в
металлах на различной глубине от поверхности воздействия мощных ионных пучков |
108 |
Фахретдинов И.А.,
Чалый А.В., Черненко Л.М. Критические явления в поверхностных слоях в
гравитационном поле |
118 |
Зусманов Е.Р.,
Маевский В.М. Микроструктура Еu2+ центров в щелочногалоидных
кристаллах с различной степенью дисперсности |
126 |
Аксенов
В.Л. Современные источники нейтронов |
131 |