Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/1998/07-98.htm
Дата изменения: Tue Apr 7 16:55:23 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 04:57:53 2016 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п |
СОДЕРЖАНИЕ N7/98
Шульпина
И.Л. Роль
повреждений поверхности в генерации дефектов приборных пластин кремния
Аксенов
В.Л., Лаутер-Пасюк В.В., Лаутер X., Лайдерер П., Корнилов Е.И., Петренко А.В. Метод рефлектометрии
поляризованных нейтронов для прямого измерения глубины проникновения магнитного
поля в сверхпроводящие пленки Nb и YBa2Cu3O7
Асадчиков
В.Б., Андреев Е.Е., Виноградов А.В., Карабеков А.Ю., Кожевников И.В ., Кривоносов Ю.С., Постиов А.А., Сагитов С.И. Исследования
микрошероховатостей сверхгладких поверхностей методом рассеяния рентгеновского
излучения
Григорян С.А., Вартаньянц
И.А. Влияние поверхности на
картину теплового диффузного рассеяния рентгеновских лучей
Скрябин
Ю.Н.,
Чукин А.В.
Малоугловое рассеяние нейтронов на крупномасштабных неоднородностях в
рефракционном режиме
Музычка А.Ю. Кристаллическое поле как
инструмент исследования гибридизационного взаимодействия
Цетлин
М.Б., Назин В.Г., Шагаров Е.А., Михеева М.Н., Ло Д.С.-Л., Хайес Н., Доунс С. Исследование угловых и
поляризационных зависимостей фотоэлектронных спектров лантана с малой степенью
окисления поверхности
Мельничук
А.В. Исследование поверхностных плазмон-фононных поляритонов в монокристаллах SiC 6Н методом
НПВО
Зайцев
В.Б., Киселев В.Ф., Ольшанский Д.И., Плотников Г.С. Взаимосвязь протонных и
электронных процессов на поверхности полупроводника
Кацнельсон А.А., Лысенко О.В., Трушин О.С.
Возмущение поверхности А1 одиноч ным атомом примеси
Лифанова Л.Ф. Исследование процессов
перемешивания ионами аргона атомов пленки и подложки
Авдиенко
К.И., Авдиенко А.А., Ивакин А.В. Исследование
процесса ионнолучевого смешивания в системе сталь 45-олово
Квеглис
Л.И ., Лисица Ю.В., Жарков С.М., Басько А.Л.,
Мытниченко С.В., Жигалов B.C., Фролов Г.И. Масштабная инвариантность структуры
при взрывной кристаллизации аморфных пленок Со
Фахретдинов
И.А ., Чалый А.В ., Черненко Л.М. Сдвиг критических параметров
и эффективные критические индексы в пространственно ограниченных средах во
внешнем поле
Васильев
А.Д. Влияние
межфазных поверхностей на диффузию в поликристаллической тонкопленочной паре
Pd/Ag