Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/1997/11-97
Дата изменения: Mon Mar 22 15:58:47 2004
Дата индексирования: Tue Oct 2 11:15:42 2012
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п
N 11

Содержание

 

Номер 11, 1997

 

Саввин Ю.Н., Ковтун Е.Д., Толмачев А.В., Семпножевко В.П., Коваль А.В. Исследование пленок Лэнгмюра-Блоджетт фуллерена C60, допированного самарием, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

 

 

5

Ковальчук М.В., Созонтов Е.А., Захаров Б.Г. Изучение структуры кристаллов Cd1-xZnxSeyTe1-y ."методом стоячей рентгеновской волны с использованием синхротронного излучения

 

 

10

Новикова Н.Н., Желудева С.И., Терещенко Е.Ю. Возможности характеризации многослойных структур в области полного внешнего отражения рентгеновских лучей при регистрации флуоресцентного излучения

 

 

 

17

Акимов А.Г., Сушкова Н.М. Взаимодействие тонких слоев Ti и Ni с поверхностью кремния (001), покрытой естественным оксидом

 

24

Ильин А.И., Андреева А.В" Толкунов Б.В. Микроструктура и электросопротивление субмикронных пленок висмута

 

29

Яновский А.С., Коломоец С.В. Моделирование вакансионного дефекта на поверхности Si(100)

 

36

Володько В.Г., Голубева Н.Г. Машинное моделирование процессов дефектообразования и диффузии при облучении ZrO2 ионами He и Ar

 

44

Шкода Л.Н., Асанов И.П., Хандрос В.О., Мазалов Л.Н., Варламов Ю.Д., Соболев Д.Ю. Метод исследования фазового состава поверхности по данным оже-спектроскопии с использованием кластерного анализа и метода главных компонент

 

 

 

49

Дроздов М.Н., Андреев С.С., Мастеров Д.В., Салащевко Н.Н., Шамов Е.А. Послойный элементный анализ многослойных структур Mo/B4C методом оже-спектроскопии

 

 

57

Господарев И.А., Сыркин Е.С., Феодосьев С.Б., Шкорбатов А.Г. Атомная динамика и модификация спектра электрон-фононного взаимодействия в ультрамалых точечных контактах

 

 

64

Ханнанов Ш.Х. Связанные заряды поверхностных дефектов в сегнетоэлектрических кристаллах

 

76

Кацнельсон А.А., Князева М.А" Олемской А.И., Ревкевач Г.П. Характерные черты эволюции дефектной структуры при фазовых превращениях в системе Pd-H

 

 

83

Фальконе Дж., Форлано Л., Машкова Е.С., Молчанов В.А" Толмачев А.И. Угловые распределения отраженных частиц при падении ионов средних энергий на поверхность твердого тела

 

 

90