Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/center/otd/dualbeam.html
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Sun Apr 10 02:44:59 2016
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п
РАСПРЕДЕЛЕННЫЙ ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ
Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института физики твердого тела Российской академии наук
О ЦЕНТРЕ
СТРУКТУРА
Группа электрохимических исследований батарей ТОТЭ
Группа времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии
Группа сканирующей электронной микроскопии
Группа специального рентгеноструктурного анализа
Группа электрохимических исследований мембранно-электродных блоков ТОТЭ
Группа дилатометрии
Группа электронно-ионной микроскопии и электронно-зондового анализа
Группа рентгеновской фотоэлектронной спектрометрии
Группа инфракрасной и рамановской спектроскопии
Группа спектральных исследований
Группа сканирующей зондовой микроскопии
Группа оптической литографии
Группа плазмохимического травления и осаждения
Группа термогравиметрического анализа
УСЛУГИ
КОНТАКТЫ

Группа электронно-ионной микроскопии и электронно-зондового анализа


В РЦКП ИФТТ РАН для проведения измерений методом электронной/ионной микроскопии и электронно-зондового микроанализа используется комбинированный прибор Dual Beam VERSA 3D HighVac производства фирмы FIE (Голландия/США).