Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://geonew.phys.msu.ru/equipment/equipment_list/214/
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Sat Apr 9 22:37:27 2016
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: ccd
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER MFM
 

Вход

Восстановление пароля
 

Copyright © 1997–2014
Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова

Разработка сайта —
SEBEKON

Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER MFM

Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER MFM
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER MFM снабжен двумя сканерами позволяющими сканировать поверхность объекта размерами 50х150х8мкм:

1. универсальная сканирующая SPM-головка SFM100SEMI из немагнитных материалов с диапазоном сканирования 100x100x5мкм;
2. нижний сканер, диапазон сканирования 50х50х3 мкм. (+/-10%)

Минимальный шаг сканирования: 0.0012 нм.

Микроскоп позволяет исследовать образцы с размерами: диаметр 21 мм, высота 10 мм, или 21x100x10 мм

В состав микроскопа входит электромагнит EMF01 с охладителем CSM01: величина создаваемых внешних магнитных полей вдоль плоскости образца: до +0.2 Тл., зазор между магнитопроводами - 6 мм и более.

Микроскоп снабжен системой подвода образца SCB12A к сканирующей головке и оптической системой состоящей из 1/3' CCD камеры и 19' монитора обеспечивающих увеличение от 85x до 1050x;

В комплектацию прибора входит активная виброзащита со следующими параметрами: активное подавление 0.7 to 1000 Hz, пассивное подавление свыше 1000 Hz.

Микроскоп снабжен рабочей станцией WSA01 и имеет необходимое программное обеспечение для работы СЗМ и обработки изображений.

Имеются зонды для контактных, бесконтактных, проводящих методик, отображения растекания и для магнитных измерений - MSMFM/45 и MSSET/50

Прибор обеспечивает проведение измерений по следующим методикам сканирующей зондовой микроскопии:

  • Атомно-Силовая Микроскопия;
  • Магнитно-Силовая Микроскопия;
  • Электро-Силовая Микроскопия;
  • Микроскопия Латеральных Сил;
  • Сканирующая Емкостная Микроскопия;
  • Токовая АСМ Литография;
  • Силовая АСМ Литография.



Распределение магнитного поля над однодоменным зерном, полученные на магнитосиловом микроскопе, и результаты моделирования




Кроме этого Лаборатория геомагнетизма располагает необходимым набором приборов для измерения параметров магнитных и электрических полей в широком диапазоне частот от 0 до 30 ГГц.

  • Магнитометр протонный ММП203М1С для измерения модуля вектора индукции магнитного поля в диапазоне (20-100) мкТл с разрешением 0, 1 нTл


  • Магнитометр протонный GSM-19 для измерения модуля вектора индукции магнитного поля в диапазоне (20-100) мкТл с разрешением 0, 01 нTл



  • Fluxe gate magnetometr Lemi 011 для измерения магнитного поля в диапазоне (0-100) мкТл с чувствительностью 36,5 мкВ/нTл.
  • Тесламетр ПИЭ МГ для измерения индукции магнитного поля в диапазоне 0,0001- 10 Тл
  • Измеритель электростатического поля СТ-1.
  • Измеритель электрического и магнитного полей промышленной частоты П3-50.
  • Измеритель напряженности электрического поля и плотности потока магнитного поля в диапазоне частот 2 Гц - 400 кГц ВЕ-метр АТ 002 с антенной АЭ-002 для проведения сертификационных испытаний
  • Измеритель электрического и магнитного полей в диапазоне частот 30 кГц- 300 МГц и плотности потока электромагнитной энергии в диапазоне частот 300 МГц-40 ГГц П3-31.