Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://mavr.sao.ru/Doc-k8/Events/2010/VAK/Tezisi/296_Thesis.doc Дата изменения: Sun Sep 5 17:36:22 2010 Дата индексирования: Sat Sep 11 21:10:06 2010 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: photosphere

Картирование поверхностей запятненных звезд.

Колбин А.И. (1), Шиманский В.В. (1), Галеев А.И. (1)

(1) Казанский (Приволжский) Государственный Университет

АБСТРАКТ

Работа посвящена освоению метода MLI (Matrix Light-curve Inversion),
предназначенного для картирования поверхностей запятненных звезд. Среди
существующих методов картирования MLI-метод обладает тем преимуществом, что
используя его, мы не вносим предположений о форме и количестве пятен
звездной поверхности и имеем возможность картирования слабых и
быстровращающихся объектов. Суть метода заключается в разбиении модели
звездной поверхности на площадки и поиске такого распределения удельных
интенсивностей по ним, которое одновременно хорошо согласуется с
наблюдаемой кривой блеска и обладает определенной степенью гладкости.
Необходимость введения последнего условия обусловлена тем, что данная
задача принадлежит классу некорректно поставленных.
Для реализации и тестирования метода MLI была написана компьютерная
программа, которая позволяет создавать запятненные модели звездных
поверхностей, строить на их основе зашумленные синтетические кривые блеска
в полосах систем Джонсона и Стремгрена, проводить MLI-восстановление
поверхностей на основе созданных или считанных кривых блеска. Метод был
протестирован на различных вариантах моделей звездной поверхности.
Далее мы приступили к исследованию затменно-переменной системы DE CVn,
вторичная компонента которой проявляет пятенную активность. Фотометрический
материал, представленный B-, V-, R-изображениями окрестностей DE CVn, был
получен на телескопе РТТ-150 15, 16, 17 и 19 марта 2009 г. при помощи ПЗС-
матрицы ANDOR ([pic] пикс.; размер пикселя [pic] мкм). Полученный материал
был обработан в среде MaximDL. На основе полученных кривых блеска были
построены карты распределения интенсивности и эффективной температуры на
поверхности запятненной компоненты. Было выявлено наличие двух крупных зон
запятненности на поверхности вторичной компоненты.