Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.issp.ac.ru/journal/surface/
Дата изменения: Fri Nov 27 10:54:08 2015
Дата индексирования: Sun Apr 10 00:51:18 2016
Кодировка: Windows-1251

Поисковые слова: arp 220

cover_rus_2015.jpg

сover_en_2015.jpg

Журнал ПОВЕРХНОСТЬ публикует оригинальные статьи и обзоры по наиболее актуальным проблемам изучения поверхностных явлений.

К ним относятся вопросы, связанные со структурой, свойствами, методами получения и исследования поверхности, тонких пленок и границ раздела. Особое внимание уделяется использованию рентгеновских, синхротронных и нейтронных методов анализа.

Журнал издается с 1982 года  (12 выпусков в год), включен в Перечень российских рецензируемых научных журналов ВАК, в которых должны быть опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание ученых степеней доктора и кандидата наук (Перечень ВАК).

Импакт фактор РИНЦ = 0.307

Редакция журнала  'Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования' приглашает Вас публиковать свои статьи в нашем журнале и информирует Вас о том, что с 2007г. компания "Pleiades Publishing, Inc." и Международная академическая издательская компания 'Наука/Интерпериодика' издает журнал на английском языке. За рубежом журнал распространяется издательством 'Springer'.

Англоязычная версия журнала Journal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques выходит 6 раз в год.

The Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques (Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Neitronnye Issledovaniya) publishes original experimental and theoretical articles and reviews on the most topical problems of surface phenomena, surface structure, physical and chemical properties, treatment and investigations of surfaces, as well as thin films, interfaces etc. Special attention is given to the use of X-ray, synchrotron and neutron methods of analysis.

The Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques is abstracted and/or indexed in (Impact Factor 0.359):

Academic OneFile, Chemical Abstracts Service (CAS), EI-Compendex, Expanded Academic, Google Scholar, INSPEC, OCLC, SCImago, SCOPUS, Summon by ProQuest.

 

ћ         О журнале

ћ         Состав редколлегии

ћ         Правила для авторов

ћ         Этика журнала ('Соблюдение действующего Законодательства  и общепринятых норм Издательской этики')

ћ         Условия подписки

ћ         Лицензионный договор (для русской версии журнала)

ћ         Договор о передаче авторского права (для англоязычной версии журнала)

 

Адрес для переписки:

117997, г. Москва, ул. Профсоюзная, д.90, Издательство 'Наука'.

Для редакции журнала 'Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования'

Фактический адрес журнала (местонахождение):

г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17а, филиал Института кристаллографии им. А.В. Шубникова

Уважаемые авторы!

Пожалуйста, отправляйте Ваши статьи в редакцию журнала Простыми письмами (можно заказными, но без объявления ценности  и без объявления об уведомлении о доставке)

Телефон:   +7(499)743-00-32 Моб. тел.: +7 916 188 71 41 email: surf@crys.ras.ru

Архив 1997-2006

СОДЕРЖАНИЕ 2007-2016

ПОВЕРХНОСТЬ

CONTENTS 2007-2016

The Journal of Surface Investigation