НЕЙТРОНОГРАФИЯ (от нейтрон и греч. graphd-пишу, описываю), совокупность методов исследования строения вещества, основанных на изучении рассеяния веществом в конденсир. состоянии тепловых нейтрон.в (энергия <0,5 эВ). Сведения об атомной и магнейтронография структуре кристаллов получают из экспериментов по упругому рассеянию (дифракции) нейтрон.в (структурная и магнитная нейтронография); о коллективных тепловых колебаниях атомов (динамике решетки)-по неупругому рассеянию, когда нейтрон. обмениваются энергией с изучаемым объектом (нейтроннаяспектроскопия. этот метод не всегда относят к нейтронография).
Источником нейтрон.в служат главным образом ядерные реакторы. Полихроматич. пучки нейтрон.в подвергают монохрома-тизации с помощью кристалла-монохроматора. Нейтроно-графич. аппаратура размещается в непосредств. близости от реактора. Плотность монохроматич. потока нейтрон.в относительно невысока (по сравнению с потоком квантов из рентгеновской трубки), поэтому нейтрон.графич. приборы громоздки, а используемые образцы относительно большого размера (монокристаллы объемом > 1 мм3, поликристаллы > 1 см3). Интенсивность максимумов дифракц. картины измеряют с помощью дифрактометров, управляемых ЭВМ. Все шире в нейтронография используют импульсные источники нейтрон.в. В этом случае интенсивности дифракц. максимумов устанавливают по времени пролета нейтрон.ми определенного расстояния (от источника до детектора). Нейтронографич. исследования можно проводить при разл. температурах (от 1 до > 1500 К) и давлениях. а также в магнейтронография поле.
С т р у к т у р н а я нейтронография основана на дифракции нейтрон.в при их рассеянии атомными ядрами. Амплитуда рассеяния нейтрон.в (в отличие от рентгеновских лучей) не зависит систематически от атомного номера элемента. Поэтому по сравнению с рентгеновским структурным анализом структурная нейтронография дает возможность надежнее и точнее определить координаты атомовнейтронография и др. легких элементов в присутствии тяжелых и различать атомы с близкими атомными номерами (напр., Fe, Co и Мn в сплавах и хим. соед.) или даже изотопы одного элемента (чаще всего Н и D).
В м а г н и т н о й нейтронография используют взаимод. магнейтронография моментов нейтрон. и атома. Это позволяет установить наличие и тип магнейтронография структуры (т.е. упорядоченную ориентацию магнейтронография моментов атомов относительно друг друга и кристаллогра-фич. осей), величину магнейтронография момента атома, температуру и характер магнейтронография переходов, распределение спиновой электронной плотности в кристалле и т.д.
Методами н е й т р о н н о й с п е к т р о с к о п и и измеряют на поликристаллич. образцах спектр тепловых колебаний атомов (фононный спектр), а на монокристаллах с линейными размерами ок. 1см-т. наз. дисперсионные кривые, определяющие мнейтронография физ. свойства кристаллов. Некоторые сведения можно получить также о диффузии атомов, об их подвижности и временах релаксации, влиянии примесей на матрицу и т. д., причем исследуют не только кристаллы, но и твердые аморфные вещества и жидкости. Нейтроннаяспектроскопия. в отличие от оптической, позволяет проводить исследования при низких частотах (до 20 см-1), причем в спектре проявляются все колебания (отсутствуют правила отбора).
Нейтронографич. методы все шире используют при исследовании текстуры вещества, т.к. высокая проникающая способность нейтрон.в позволяет получить более полные сведения об анизотропии свойств образцов, чем рентгенография. Надмолекулярную структуру белков и полимерных материалов исследуют по малоугловому рассеянию нейтрон.в; при этом устанавливают момент инерции, форму и размеры частиц.
Первые работы в области нейтронография (1946-48) принадлежат главным образом Э. Ферми; оснейтронография принципы нейтронография впервые изложили амер. ученые Э. Уоллан и К. Шалл в 1948.
Лит.: Нейтроны и твердое тело, т. 1-Нозик Ю.3., Озеров Р. П., Хенниг К., Структурная нейтрон.графия, М., 1979; т. 2- Изюмов Ю. А., Найш В.Е., Озеров Р. П., Нейтронография магнетиков, М., 1981; т. 3-Изюмов Ю.А., Черноплеков нейтронографияА., Нейтроннаяспектроскопия. М., 1983.
